[发明专利]指示体操作检测装置有效
申请号: | 201310246682.X | 申请日: | 2013-06-20 |
公开(公告)号: | CN103513786B | 公开(公告)日: | 2018-12-04 |
发明(设计)人: | 福岛康幸 | 申请(专利权)人: | 株式会社和冠 |
主分类号: | G06F3/0354 | 分类号: | G06F3/0354;G06F3/044 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 李亚;陆锦华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 指示 体操 检测 装置 | ||
1.一种指示体操作检测装置,具有:传感器,在第1方向配置有多个第1电极,并且在与所述第1方向不同的第2方向配置有与所述多个第1电极相交的多个第2电极;操作检测电路,与所述多个第1电极及所述多个第2电极连接,以静电电容方式检测指示体对所述传感器的指示位置,作为预定的二维坐标空间的坐标轴上的坐标值;以及表面操作部,被配置在所述传感器的受理所述指示体的指示操作的一侧,所述指示体操作检测装置的特征在于,
所述表面操作部具有第1输入部和第2输入部,
所述第1输入部具有曲面,将所述传感器的对应的预定区域作为检测区域,
所述第2输入部形成为将以下的区域作为检测区域,该区域被所述传感器的与所述第1输入部对应的所述预定区域包围,而且是在所述二维坐标空间中相对于所述坐标轴的方向为特定方向的直线的特定区域,所述第2输入部具有与所述特定区域对应的面形状与所述第1输入部的曲面的面形状不同的面。
2.根据权利要求1所述的指示体操作检测装置,其特征在于,所述第1输入部的所述曲面在所述指示体接触的一侧呈凸状。
3.根据权利要求2所述的指示体操作检测装置,其特征在于,所述第2输入部的所述直线的特定区域的所述面形状与所述指示体的接触面积大于所述第1输入部的曲面与所述指示体的接触面积。
4.根据权利要求1所述的指示体操作检测装置,其特征在于,所述第1输入部的所述曲面从所述指示体接触的一侧观察呈凹部。
5.根据权利要求1所述的指示体操作检测装置,其特征在于,所述第2输入部的所述直线的特定区域的所述面形状包括与所述特定方向垂直的方向的曲率为零的部分。
6.根据权利要求1所述的指示体操作检测装置,其特征在于,所述第2输入部的所述直线的特定区域的所述面形状是凹面。
7.根据权利要求1所述的指示体操作检测装置,其特征在于,在所述第2输入部中,相互垂直的两个方向的直线的特定区域形成为在所述直线的特定区域的中央部相互相交,所述相互垂直的两个方向与相互垂直的所述坐标轴方向中的一个方向和另一个方向具有特定的关系。
8.根据权利要求1所述的指示体操作检测装置,其特征在于,所述传感器与所述表面操作部形成为一体。
9.根据权利要求1所述的指示体操作检测装置,其特征在于,所述传感器具有平面形状,所述表面操作部与所述传感器分体设置。
10.根据权利要求1所述的指示体操作检测装置,其特征在于,所述第1输入部形成为比在所述第2输入部的所述传感器的指示体检测灵敏度低的检测灵敏度。
11.根据权利要求10所述的指示体操作检测装置,其特征在于,在所述第1输入部配置有用于成为所述低的检测灵敏度的第1部件。
12.根据权利要求1所述的指示体操作检测装置,其特征在于,所述传感器的所述预定区域的外侧的区域被设为不进行所述指示体的检测的不敏感区区域。
13.根据权利要求12所述的指示体操作检测装置,其特征在于,在所述传感器的所述预定区域的外侧的区域中配置妨碍所述指示体的指示操作的检测的第2部件,从而形成所述不敏感区区域。
14.根据权利要求13所述的指示体操作检测装置,其特征在于,所述第2部件是设于所述传感器和所述表面操作部之间的电介质。
15.根据权利要求13所述的指示体操作检测装置,其特征在于,所述第2部件是设于所述传感器和所述表面操作部之间的导电体。
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