[发明专利]温度检测范围确定装置及方法有效

专利信息
申请号: 201310247416.9 申请日: 2013-06-20
公开(公告)号: CN103512662A 公开(公告)日: 2014-01-15
发明(设计)人: 细居智树;本田光弘 申请(专利权)人: 阿自倍尔株式会社
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00
代理公司: 上海市华诚律师事务所 31210 代理人: 肖华
地址: 日本东京都千代田*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 温度 检测 范围 确定 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种温度检测范围确定装置,其特征在于,包括:

存储部,其对于成为温度分布的检测对象的空间中所设置的多个热电堆阵列传感器的每一个,存储该热电堆阵列传感器应检测温度的预定检测范围的位置坐标;

检测温度取得部,其从所述各热电堆阵列传感器取得检测温度;

温度变化对照部,其对于所述各热电堆阵列传感器当中的、相互的预定检测范围部分重复的两个热电堆阵列传感器,在从该重复区域内选择的一方的热电堆阵列传感器侧的每个检查位置和从另一方的热电堆阵列传感器的预定检测范围内选择的另一方的热电堆阵列传感器侧的各对照位置之间,对在各个位置检测到的所述检测温度的时间序列变化进行对照,来确定得到了最高的对照结果的最佳对照位置;

系数推算部,其对每个所述检查位置生成表示有关该检查位置的所述最佳对照位置和位置偏差系数的关系的方程式,所述位置偏差系数示出表示该检查位置的位置坐标与表示该最佳对照位置的位置坐标之间的位置偏差,通过使这些方程式联立用最小二乘法进行求解,来推算这些位置偏差系数;以及

检测范围确定部,其通过根据所述位置偏差系数对所述另一方的热电堆阵列传感器的所述预定检测范围的位置坐标进行校正,来对所述另一方的热电堆阵列传感器的实际检测范围进行确定。

2.根据权利要求1所述的温度检测范围确定装置,其特征在于,将所述检查位置的位置坐标设为x,y;所述最佳对照位置的位置坐标设为x’,y’;所述位置偏差系数设为c0,c1,c2,c3,c4,c5时,所述方程式由下式表示

x’=c0x+c1y+c2

y’=c3x+c4y+c5。

3.一种温度检测范围确定方法,其特征在于,包括如下步骤:

存储步骤,存储部对于设置在成为温度分布的检测对象的空间中的多个热电堆阵列传感器的每一个,存储该热电堆阵列传感器应检测温度的预定检测范围的位置坐标;

检测温度取得步骤,检测温度取得部从所述各热电堆阵列传感器取得检测温度;

温度变化对照步骤,温度变化对照部对于所述各热电堆阵列传感器当中的、相互的预定检测范围部分重复的两个热电堆阵列传感器,在从该重复区域内选择的一方的热电堆阵列传感器侧的每个检查位置和从另一方的热电堆阵列传感器的预定检测范围内选择的另一方的热电堆阵列传感器侧的各对照位置之间,对在各个位置上检测的所述检测温度的时间序列变化进行对照,来确定得到了最高的对照结果的最佳对照位置;

系数推算步骤,系数推算部对于每个所述检查位置生成表示有关该检查位置的所述最佳对照位置和位置偏差系数的关系的方程式,所述位置偏差系数示出表示该检查位置的位置坐标与表示该最佳对照位置的位置坐标之间的位置偏差,通过使这些方程式联立用最小二乘法进行求解,来推算这些位置偏差系数;以及

检测范围确定步骤,检测范围确定部通过根据所述位置偏差系数对所述另一方的热电堆阵列传感器的所述预定检测范围的位置坐标进行校正,来确定所述另一方的热电堆阵列传感器的实际检测范围。

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