[发明专利]一种电子校准件及其校准系统无效

专利信息
申请号: 201310250462.4 申请日: 2013-06-21
公开(公告)号: CN103368669A 公开(公告)日: 2013-10-23
发明(设计)人: 姜万顺;梁安慧;文春华 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 266000 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 电子 校准 及其 系统
【权利要求书】:

1.一种电子校准件,其特征在于,包括控制电路模块和电子标准模块,所述控制电路模块与所述电子标准模块相连接。

2.根据权利要求1所述的电子校准件,其特征在于,所述控制电路模块包括CPU模块、存储器、开关控制单元和通信模块;

所述存储器与所述CPU模块相连,用于电子校准件定标数据的存储;

所述开关控制单元与所述CPU模块相连,用于控制开关的闭合与打开状态;

所述通信模块与所述CPU模块相连,用于与矢量网络分析仪的通信。

3.根据权利要求1所述的电子校准件,其特征在于,所述电子标准模块包括MEMS技术的开关、传输线和电子标准单元;所述MEMS技术的开关通过所述传输线与所述电子标准单元相连。

4.根据权利要求3所述的电子校准件,其特征在于,所述电子标准单元包括开路、短路、负载反射阻抗标准和直通传输标准。

5.根据权利要求3所述的电子校准件,其特征在于,所述电子标准模块有两个端口。

6.根据权利要求2所述的电子校准件,其特征在于,所述开关控制单元为I/O口的开关控制单元。

7.根据权利要求2所述的电子校准件,其特征在于,所述存储器为SRAM存储器和/或FLASH存储器。

8.根据权利要求7所述的电子校准件,其特征在于,所述SRAM存储器和/或FLASH存储器存储有不同阻抗标准值,所述不同阻抗标准值作为定标值。

9.一种电子校准系统,其特征在于,包括如权利要求1至9任一所述的电子校准件、自动算法模块和矢量网络分析仪;所述自动算法模块内置于所述矢量网络分析仪内,所述电子校准件通过所述自动算法模块的控制实现矢量网络分析仪的自动校准及误差修正。

10.根据权利要求9所述的电子校准系统,其特征在于,所述自动算法模块包含有定标插值拟合算法和剩余误差分析算法。

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