[发明专利]用于单端光学测试仪器的阵列连接器测试线束在审
申请号: | 201310251091.1 | 申请日: | 2013-05-08 |
公开(公告)号: | CN104052543A | 公开(公告)日: | 2014-09-17 |
发明(设计)人: | C·施拉布;H·卡斯勒;J·D·谢尔 | 申请(专利权)人: | 弗兰克公司 |
主分类号: | H04B10/077 | 分类号: | H04B10/077;H04B10/071 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 董均华;杨炯 |
地址: | 美国华*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 光学 测试 仪器 阵列 连接器 | ||
1.一种用于光学网络测试的阵列连接器线束系统,包括:
近端线束,用于在待测光纤的第一端连接到待测光纤;以及
远端线束,用于在待测光纤的第二端连接到待测光纤,
其中,所述近端和远端线束协作连接所述待测光纤,从而形成端到端的单个光学路径。
2.根据权利要求1所述的阵列连接器线束系统,其中,所述近端线束包括阵列连接器。
3.根据权利要求1所述的阵列连接器线束系统,其中,所述近端线束包括MTP连接器。
4.根据权利要求1所述的阵列连接器线束系统,其中,所述远端线束包括MPO连接器。
5.根据权利要求1所述的阵列连接器线束系统,其中,所述远端线束包括MTP连接器。
6.根据权利要求1所述的阵列连接器线束系统,其中,所述待测光纤包括多条光纤路径并且所述近端线束包括回路接口从而将所述多条光纤互连。
7.根据权利要求1所述的阵列连接器线束系统,其中,所述待测光纤包括多条光纤路径并且所述远端线束包括回路接口从而将所述多条光纤互连。
8.根据权利要求1所述的阵列连接器线束系统,其中,所述待测光纤包括多条光纤路径并且所述近端和远端线束中的至少一条包括回路接口从而将所述多条光纤互连,所述回路接口具有对于所述多条光纤的回路唯一的长度。
9.根据权利要求1所述的阵列连接器线束系统,其中,所述待测光纤包括多条光纤路径并且所述近端和远端线束中的至少一条包括回路接口从而将所述多条光纤互连,所述回路接口在回路中的独特位置具有非反射性损失元件。
10.根据权利要求1所述的阵列连接器线束系统,其中,所述待测光纤包括多条光纤路径并且所述近端和远端线束中的至少一条包括回路接口从而将所述多条光纤互连,所述回路接口包括作为编码使用的多个事件,从而独特地识别每一条回路。
11.一种用于测试多光纤光学链路的方法,包括:
将所述多光纤链路中的多条独立光纤互连,以形成单个光学路径;并且
在所述单个光学路径上实施测试。
12.根据权利要求11所述的方法,其中,所述互连包括在所述光纤链路的第一端提供第一回路连接器,并且在所述光纤链路的第二端提供相应的第二回路连接器,所述第一和第二回路连接器协作将所述多光纤光学链路的每条独立光纤互连从而形成穿过其中的单个光学路径。
13.一种光纤光学测量系统,包括
测试仪器;
近端线束,用于在待测光纤的第一端连接到待测光纤;以及
远端线束,用于在待测光纤的第二端连接到待测光纤,
其中,所述近端和远端线束协作连接所述待测光纤从而形成端到端的单个光学路径,从而与所述测试仪器连接,实现待测光纤的测试。
14.根据权利要求13所述的光纤光学测试系统,其中,所述近端线束包括MPO连接器。
15.根据权利要求13所述的光纤光学测试系统,其中,所述近端线束包括MTP连接器。
16.根据权利要求13所述的光纤光学测试系统,其中,所述远端线束包括MPO连接器。
17.根据权利要求13所述的光纤光学测试系统,其中,所述远端线束包括MTP连接器。
18.根据权利要求13所述的光纤光学测试系统,其中,所述待测光纤包括多条光纤路径并且所述近端线束包括回路接口从而将所述多条光纤互连。
19.根据权利要求13所述的光纤光学测试系统,其中,所述待测光纤包括多条光纤路径并且所述远端线束包括回路接口从而将所述多条光纤互连。
20.一种测试多光纤光学链路的方法,包括:
在多光纤光学链路的一端提供第一回路接口从而形成所述多光纤光学链路的多条独立光纤之间的回路连接;
在多光纤光学链路的另一端提供第二回路接口,与所述第一回路接口一起将所述多光纤链路的多条独立光纤互连,从而形成穿过所述多条独立光纤的单个光学路径,并且提供两个尾连接,用于接入所述单个光学路径的两端,以及
在所述单个光学路径上实施测试。
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