[发明专利]Ti合金氮化物选择性吸收膜系及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201310251610.4 申请日: 2013-06-21
公开(公告)号: CN103383155A 公开(公告)日: 2013-11-06
发明(设计)人: 陆卫;王晓芳;俞立明;王少伟;陈飞良;刘星星;简明;陈效双 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: F24J2/48 分类号: F24J2/48;C23C14/34;C23C14/06;B32B9/04
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: ti 合金 氮化物 选择性 吸收 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种Ti合金氮化物太阳能选择性吸收膜系,包括金属衬底(1)、Ti合金氮化物薄膜(2)、氮化硅或氮化铝或其组合薄膜(3)和二氧化硅薄膜(4),其特征在于:

所述的膜系结构为:在金属衬底(1)上依次沉积Ti合金氮化物薄膜(2)、氮化硅或氮化铝或其组合薄膜(3)和二氧化硅薄膜(4);

所述的金属衬底(1)是Cu箔片,Al箔片,或者是表面沉积一层Cu薄膜的Al、Ni、玻璃或不锈钢箔片,或者是表面沉积一层红外高反射的Ag薄膜的Al、Ni、不锈钢或Cu箔片;所述的Cu薄膜的厚度范围为50-350nm,其优选范围为100-150nm;所述的Ag薄膜厚度范围为8-20nm,其优选范围为10-15nm;

所述的Ti合金氮化物薄膜(2)的厚度范围为80-120nm,其优选范围为95-105nm,膜层材料为TiAlN、TiSiN及TiAlSiN中的一种或几种,其中Ti、Al或Si、N三种元素的原子比为Ti:Al、Si:N=0.2~0.5:0.5~0.8:1.0,优选的原子比为Ti:Al、Si:N=0.3~0.4:0.6~0.7:1.0;

所述的氮化硅或氮化铝或其组合薄膜(3)为Si3N4或AlN或其组合,厚度范围为20-50nm,其优选范围为25-35nm;

所述的二氧化硅薄膜(4)厚度范围为50nm-150nm,其优选范围为70-90nm范围内。

2.根据权利要求1所述的一种Ti合金氮化物太阳能选择性吸收膜系,其特征在于:所述的Ti合金氮化物薄膜(2)的折射率可以自由的通过调节Al和Si的含量控制其从金属性向类陶瓷性质的过渡;所述的吸收膜层(2)是单一组分比的单层TiAlN、TiSiN,或TiAlSiN薄膜,或是各层组分比不同的多层TiAlN、TiSiN,或TiAlSiN材料中的一种或几种,或是组分随厚度渐变的TiAlN、TiSiN或TiAlSiN材料中的一种或几种形成的渐变膜。

3.一种如权利要求1所述的选择性吸收膜系的制备方法,其特征在于包括下列步骤:

A在Cu衬底上生长Ti合金选择性吸收膜层TiAlN或TiSiN,或TiAlSiN薄膜,其溅射靶材可以是TiAl或TiSi靶,或TiAlSi靶,以氮气做为反应气体进行反应溅射;或者采用TiAlN或TiSiN,或TiAlSiN的陶瓷靶材,直接进行溅射镀膜;

B在Ti合金氮化物薄膜(2)上,生长氮化硅或氮化铝或其组合薄膜(3),其溅射靶材可以是Al或Si靶,以氮气做为反应气体进行反应溅射;或者采用TiAlN或TiSiN,或TiAlSiN的陶瓷靶材,直接进行溅射镀膜;

C在氮化硅或氮化铝或其组合薄膜(3)上沉积二氧化硅薄膜(4),其溅射靶材可以是Si靶,以氧气作为反应气体进行反应溅射;或者采用SiO2陶瓷靶材直接进行溅射镀膜。

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