[发明专利]温度测量设备、具有其的电装置以及用于测量温度的方法

权利要求书

1.一种用于电装置的温度测量设备，其包括以电气电阻器形式的至少一个温度传感器，能够以测量电压之间的循环切换将至少两个不同的测量电压施加到所述温度传感器，其中所述温度传感器连接到控制装置，其包括微控制器并且其被配置用于向所述温度传感器施加至少两个不同的测量电压。

2.根据权利要求1所述的设备，其中至少两个温度传感器在每个情况中配备有至少一个电气电阻器。

3.根据权利要求2所述的设备，其中温度传感器是不同的或者不相同的。

4.根据权利要求2所述的设备，其中提供了不同厂商的温度传感器。

5.根据权利要求2或3所述的设备，其中温度传感器或其电气电阻器在每个情况中具有不同的电阻值。

6.根据权利要求2所述的设备，其中温度传感器在电阻器值的温度相关性方面具有不同的特性。

7.根据权利要求6所述的设备，其中提供了非线性电阻器和线性电阻器，其中两个温度传感器的电气电阻器之一是作为非线性电阻器的NTC或PTC电阻器。

8.根据权利要求1所述的设备，其中，提供了在一个或多个温度传感器的上游的至少两个不同的串联电阻器。

9.根据权利要求1所述的设备，其中作为电气电阻器的参考电阻器被提供用于温度传感器，所述参考电阻器是针对温度传感器的参考值。

10.根据权利要求9所述的设备，其中提供了多个不同的参考电阻器并且提供了用于在参考电阻器之间转接的切换设备。

11.根据权利要求1所述的设备，其中提供了用于温度测量设备的电路的积分电容器、作为温度传感器的电气电阻器、参考电阻器以及计数电路。

12.根据权利要求1所述的设备，其中在控制装置中或者在微控制器中提供了集成的多路复用器。

13.根据权利要求1所述的设备，其中控制装置或微控制器包括存储器，在所述存储器中至少存储了在电装置的操作期间针对温度传感器的将被期待的期望温度特性，其中所述设备或所述微控制器被配置用于将在温度传感器处测量的实际温度特性与存储在所述控制装置或微控制器中的期望温度特性相比较。

14.根据权利要求1所述的设备，其中提供了以自持方式操作的安全电子设备的情况中的自诊断的实现。

15.根据权利要求14所述的设备，其中用于自诊断的信息来自温度控制器。

16.一种具有根据权利要求1的温度测量设备的电装置，其中它包括用于要被加热的空间的电加热，其中如与在要被加热的空间中的诸如流体之类的介质一起所需要的在要被加热的空间中的温度通过温度传感器被测量或监视。

17.一种具有根据权利要求1的设备的用于测量温度的方法，其中，以测量电压之间的循环切换向温度传感器施加至少两个不同的测量电压，其中温度传感器连接到控制装置，所述控制装置包括微控制器并且用于向所述温度传感器施加至少两个不同的测量电压。

18.根据权利要求17所述的方法，其中温度传感器与两个不同的串联电阻器一起进行操作。

19.根据权利要求17所述的方法，其中，用至少一个温度传感器以及用至少一个参考电阻器来进行温度测量，其中所述参考电阻器被用作针对温度传感器的电气电阻的参考值，并且在该情况中温度传感器或参考电阻器以测量电压之间的循环切换进行操作而另一个以恒定测量电压进行操作以用于直接的温度测量。

20.根据权利要求19所述的方法，其中在微控制器中实现两个所测量的实际温度特性的比较。

21.根据权利要求17所述的方法，其中将在温度传感器处测量的实际温度特性与保存在微控制器中的期望温度特性相比较，作为叠加。

22.根据权利要求21所述的方法，其中所述叠加的幅度被评估，以便推断绝对温度。