[发明专利]一种全场激光测振系统有效
申请号: | 201310253021.X | 申请日: | 2013-06-24 |
公开(公告)号: | CN103308150A | 公开(公告)日: | 2013-09-18 |
发明(设计)人: | 朱振宇;李华丰;李强;梁志国;任冬梅;张力 | 申请(专利权)人: | 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 |
主分类号: | G01H9/00 | 分类号: | G01H9/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100095*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 全场 激光 系统 | ||
1.一种全场激光测振系统,其特征在于:由测量装置由光频调制模块1,干涉测量主体模块(2),分域光组控制模块(3),干涉信号解调模块(4),控制及信息输出模块(5),视觉测量模块(6)组成;测量装置采用外差干涉的原理,在参考光或测量光频率上利用声光调制的方法叠加调制光频,主要用于测振时的速度方向判别;定义测量光方向为Z轴方向,垂直于测量光方向的平面为X、Y轴平面,以此共同组成空间直角坐标系;测量光经过准直扩束后进入干涉测量主体模块(2),分光成参考光和测量光,参考光或测量光利用光频调制模块(1)实现测量中光频调制,其中测量光经分域光组镜形成测量全场光波入射被测对象,返回与参考光干涉后,再次经分域光组镜入射调谐光切镜,根据测量选择区域可选择测量全场振动量;根据视觉测量模块(6)测量结果确定空间测量点位置,利用分域光组控制模块(3)来选择干涉光输出的空间位置,分域光组位移调制器调节光电接收器的对应空间位置,实现全场振动的同步及任意设置区域测量,其中光电信号转换有利用干涉信号解调模块(4)完成,控制及信息输出模块(5)完成系统测量控制及数据输出。
2.如权利要求1所述的一种全场激光测振系统,其特征在于:光频调制模块(1),主要包括声光调制晶体,驱动电源及信号发生器三个部分组成,利用布拉格光栅衍射的原理实现测量光频率调制,主要用于振动测量中速度方向的判断。
3.如权利要求1所述的一种全场激光测振系统,其特征在于:干涉测量模块,主要包括反射镜、分域光组镜、偏振分光棱镜、1/4波片、1/2波片、光电接收器等必要的光学元件,用于振动测量的光学干涉实现。
4.如权利要求1所述的一种全场激光测振系统,其特征在于:分域光组控制模块(3),主要包括位移驱动电路及数据处理电路,用于分光的控制及电气输出。
5.如权利要求1所述的一种全场激光测振系统,其特征在于:干涉信号解调模块(4),主要包括数据采集的AD变换电路及同步控制电路,用于干涉信号的同步获取。
6.如权利要求1所述的一种全场激光测振系统,其特征在于:控制及信息输出模块(5)实现测量装置的协调控制,测量信号的获取及全场振动量关联耦合计算与测量结果输出。
7.如权利要求1所述的一种全场激光测振系统,其特征在于:配有辅助的视觉测量模块(6),有利于复杂形貌全场振动测量的选点与测量,该模块具有与控制及信息输出模块(5)通讯功能,能够实现全场任意点自动位置伺服控制与测量。
8.如权利要求1到7所述的一种全场激光测振系统,其特征在于:包括测量光源(9),准直扩束器(10),第一偏振分光棱镜(11),声光调制器(12),第一反射镜(13)、第二反射镜(14)、第三反射镜(15),1/2波片(16),第二偏振分光棱镜(17),1/4波片(18),第一分域光组镜(19),测量对象(20),分光镜(21),第二分域光组镜(22),调谐光切镜(23),光电接收器(24),分域光组位移调制器(25),视觉测量装置(26);测量光源(9)出射光通过准直扩束器(10)后形成测量光源;光束经第一偏振分光棱镜(11)后形成测量光与参考光;参考光通过声光调制器(12)将参考光叠加调制光频,用于鉴别测量点的速度方向;参考光经第一反射镜(13)、第二反射镜(14)与分光镜(21)后与测量光干涉;测量光经第三反射镜(15)通过1/2波片(16)旋转偏振方向,通过第二偏振分光棱镜(17),穿过1/4波片(18)变圆偏振光后到达第一分域光组镜(19),变成发散光出射到测量对象(20),经反射后返回第一分域光组镜(19),穿过1/4波片(18)变回线偏振光经第二偏振分光棱镜(17)反射,通过反射镜(21)与参考光汇合;汇合光束经第二分域光组镜(22)及调谐光切镜(23)后分束检偏干涉,通过分域光组位移调制器(25)调整光电接收器(24)位置对应接收,最后通过干涉信号解调模块(4)获得测量结果,测量点的选择依据视觉测量装置(26)来完成,测量时视觉测量模块将测量对象视频显示在屏幕上,使用者在屏幕上设定测量点,通过控制系统计算控制分域光组镜实现选定点测量。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所,未经中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310253021.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种基于变压器油箱试漏检验装置
- 下一篇:一种水表叶轮轴装置