[发明专利]基于波长调制的气体吸收谱线线宽和线型系数的测量方法有效

专利信息
申请号: 201310253120.8 申请日: 2013-06-24
公开(公告)号: CN103323115A 公开(公告)日: 2013-09-25
发明(设计)人: 彭志敏;丁艳军;蓝丽娟 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01J3/433 分类号: G01J3/433;G01N21/39
代理公司: 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 代理人: 邸更岩
地址: 100084 北京市海淀区1*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 波长 调制 气体 吸收 线线 宽和 线型 系数 测量方法
【权利要求书】:

1.基于波长调制的气体吸收谱线线宽和线型系数的测量方法,其特征是该方法包括如下步骤:

1)用流量计控制待测气体的浓度X,用压力传感器(5)和温度传感器(6)分别测量气体介质的压强P和温度T;

2)根据待测气体种类,从HITRAN光谱数据库中选取待测气体的特征谱线,确定气体特征谱线的中心频率υ0、线强度S(T)、自身加宽系数γself和空气加宽系数γair

3)以可调谐半导体激光器(3)为光源,用激光控制器(2)控制可调谐半导体激光器(3)的输出频率稳定在中心频率υ0处;

4)将锁相放大器(1)产生的高频正弦信号输入到激光控制器(2),以调制可调谐半导体激光器(3)的输出频率;

5)将可调谐半导体激光器(3)输出的激光经准直后射入气体介质(10)中,透射光强由光电探测器(9)接收并转换为电信号,再输入到锁相放大器(1)中进行二次和四次谐波检测,得到在特征谱线中心频率υ0处二次和四次谐波比值R24

式中,S2f和S4f分别是二次和四次谐波信号;a为调制幅度;θ∈[-π,π];(υ)为气体吸收线型函数,用福伊特线型函数表示,由线宽δV及线型系数ξ决定,线宽δV是特征谱线半高宽的一半,线型系数ξ∈[-1,1];

6)从式(1)中看出,R24仅与调制幅度a和气体吸收线型函数有关;定义调制系数m=a/δV,对式(1)进行仿真计算得到一组恒过定点的曲线簇:不管线型系数ξ如何变化,随着调制系数m的增大,R24值单调减小且恒过一个不动点O,O点的坐标为:

m*=2.4926R24*=2.1865---(2)]]>

7)根据式(2)的不动点,在实验中调节调制幅度a,使得R24=R24*,则调制系数为m*,根据调制系数的定义即得到特征谱线的线宽δV=a/m*=a/2.4926;

8)对于同一次实验,线宽不变,因此当减小调制幅度a时,得到在较小调制系数m时的R24,根据R24与m的关系确定线型系数ξ。

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