[发明专利]传感测试夹具

说明书

技术领域

本发明涉及电子产品领域，特别涉及一种用于电子产品的传感测试夹具。

背景技术

目前电子产品中传感（SENSOR）测试这一方面越来越重要，它能使电子产品中的许多工艺制造缺陷问题都显现出来，尤其是目测方面无法看到的技术问题等等。现有技术的电子产品中传感测试夹具是采用探针固定在防静电的电木板上，需要测试时直接把待测电子产品放置在设计好尺寸的电木板槽里，通过手动压合，使电子产品的测试点与探针紧密接触来达到测试效果。

这样的测试方式，由于电子产品与探针每次测试时都需要手工直接接触，放进去再取出来，且大尺寸的测试夹具上面需要一百多根测试探针，这样的工作重复次数越多，探针的X方向（横向）及Y方向（纵向）损坏的几率就会提高，日常工作中此测试夹具替换探针的频率很高，既影响了电子产品测试的效率，又增加了电子产品测试误判的情况。

发明内容

本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中传统的传感测试方式探针损坏率高、传感测试效率低和测试精确度低等缺陷，提供一种传感测试夹具。

本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题的：

一种传感测试夹具，其特点在于，其包括一固定于一支座上的面板，一用于放置待测产品的托盘和一用于使所述托盘复位的复位装置，所述面板上设有一内置若干探针的测试针块，所述托盘活动设于所述面板上；所述托盘上设有若干与所述探针对应的过孔，用于使若干所述探针穿出托盘并与所述待测产品的测试点相接触。

在本方案中，测试针块固定在面板上，托盘活动设在面板上，当提供托盘一沿竖直方向的压力使托盘与面板之间产生一相对位移，从而使探针与待测产品的测试点紧密接触实现测试；撤销竖向压力后，通过复位装置的作用使托盘和待测产品一起被弹回，这样就实现了待测产品拿取时与探针未直接接触，降低了探针的损坏率，同时提高了传感测试的正确率和效率，达到一个自然收放的结合效果。

较佳地，所述托盘上设有一用于放置待测产品的卡槽、若干轴孔和若干固定于每一所述轴孔的轴，所述面板上设有若干轴承孔和若干固定于每一所述轴承孔的直线轴承，每一所述轴与每一所述直线轴承传动连接，用于实现所述托盘在所述面板上沿竖直方向滑动。

在本方案中，直线轴承与轴传动连接，同时轴固定在托盘上和直线轴承固定在面板上，使托盘与面板之间能产生相对移动；此外，在托盘上设置与移动终端对应的卡槽，能使所述待测产品平稳的放置在托盘的顶面上，避免了因待测产品在水平方向产生偏移使传感测试点与探针产生错位。

较佳地，所述轴孔和所述轴承孔均具有3个，且均不在同一直线上。

在本方案中，采用上述结构形式，使面板与托盘在竖直方向产生相对位移时，托盘在水平方向始终保持平稳的状态，不会产生偏移。

较佳地，所述复位装置包括一弹簧和一第一紧固件，所述托盘上开设有一第一螺纹孔，所述第一紧固件固定于所述第一螺纹孔内，所述弹簧的一端部套设于所述第一紧固件上，所述面板上开设有一与所述第一螺纹孔对应的通孔。

在本方案中，采用复位装置的结构设计形式，当测试完成撤销压力后，托盘可自然弹回，避免了与探针的直接接触，降低了探针的损坏率，提高了探针的使用寿命。

较佳地，所述托盘上设有一与所述测试针块对应的第一容置槽，所述第一容置槽的外形尺寸与所述测试针块的外形尺寸相同。

在本方案中，托盘上设置第一容置槽，托盘在向下移动过程中，测试针块放置于第一容置槽内，避免了测试针块对托盘产生干涉，使托盘与面板紧密接触，提高了托盘与面板的接触面积，从而提高了托盘在水平方向的平稳性，保证了探针与待测产品的测试点的接触精度和平稳度。

较佳地，所述面板上设有一与所述测试针块对应的第二容置槽，所述第二容置槽的外形尺寸与所述测试针块的外形尺寸相同，所述测试针块固定于所述第二容置槽内。

在本方案中，面板上设置第二容置槽，托盘在向下移动过程中，测试针块放置于第二容置槽内，避免了测试针块对托盘产生干涉，使托盘与面板紧密接触，提高了托盘与面板的接触面积，从而提高了托盘在水平方向的平稳性，保证了探针与待测产品的测试点的接触精度和平稳度。

较佳地，所述支座包括一放置于工作台上的底板、若干立柱和一位于所述面板与所述底板之间的容置空间区域，每一所述立柱的一端固定于所述底板上，每一所述立柱的另一端固定于所述面板上。

在本方案中，容置空间区域用于放置固定接线PCB板及测试主板。

较佳地，所述立柱为4根，所述底板的四个端部均设有一所述立柱。