[发明专利]一种电阻测温量热计及其测量方法

权利要求书

1.一种电阻测温量热计，包括绝热管、固定在绝热管一端的量热片，以及填充在绝热管内的高分子化合物，其特征在于，所述量热片朝向绝热管内部的一侧设置有金属薄膜，所述金属薄膜的两端分别连接有测量引线。

2.如权利要求1所述的电阻测温量热计，其特征在于，所述量热片为具有高热导率和高电阻率的材料。

3.如权利要求1所述的电阻测温量热计，其特征在于，所述金属薄膜为贵金属薄膜。

4.如权利要求1中所述的电阻测温量热计，其特征在于，所述金属薄膜的厚度为10^-8～10^-7m。

5.如权利要求1中所述的电阻测温量热计，其特征在于，所述量热片的厚度为0.15mm-0.2mm。

6.如权利要求1中所述的电阻测温量热计，其特征在于，所述金属薄膜通过溅射的方法镀在量热片上。

7.如权利要求1中所述的电阻测温量热计，其特征在于，所述金属薄膜包括中间的矩形结构，以及设置在两端的圆弧状结构，所述测量引线与所述圆弧状结构相连。

8.如权利要求1中所述的电阻测温量热计，其特征在于，所述金属薄膜的阻值和温度呈线性变化。

9.如权利要求1中所述的电阻测温量热计，其特征在于，所述高分子化合物为环氧树脂，所述金属薄膜为铂薄膜，所述量热片为金刚石片。

10.一种如权利要求1中所述的电阻测温量热计的测量方法，其特征在于，若量热片背面及侧面绝缘无热损失，则单位面积量热片在某一时间间隔传入其中的热量应等于量热片蓄积的热量，因此得出热流量的计算公式：

q·Δt=∑ρcΔT·Δx

上述公式取极限得出：

q=∫01ρc∂T∂tdx]]>

若ρ和c为常数，则

q=ρc∫01∂T∂tdx=ρcldT‾dt]]>

式中：Δt为单位时间间隔，ρ为量热片材料的密度，c为量热片材料的比热，ΔT为单位时间间隔内量热片温度升高值，Δx是沿量热片厚度方向x的单位位置量，为量热片平均温度，l为量热片的的厚度；

在此方法中由测量量热片背面温度变化率代替平均温度变化率，且通过薄膜电阻的阻值变化得出量热片背面温度的变化率。