[发明专利]晶体型压力、应力或加速度传感器及光学测量方法有效
申请号: | 201310258020.4 | 申请日: | 2013-06-26 |
公开(公告)号: | CN103335757A | 公开(公告)日: | 2013-10-02 |
发明(设计)人: | 李长胜;袁媛 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01L1/24 | 分类号: | G01L1/24;G01P15/00 |
代理公司: | 北京永创新实专利事务所 11121 | 代理人: | 祗志洁 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶体 压力 应力 加速度 传感器 光学 测量方法 | ||
1.一种光学晶体型压力、应力或加速度传感器,其特征在于,包括光学传感单元和信号处理与调制控制单元;光学传感单元包括:激光二极管准直光源、起偏器、传感元件、检偏器和光电探测器;信号处理与调制控制单元包括:信号处理电路、电压比较器、调制电压控制器和输出显示单元;传感元件为兼有电光效应和弹光效应的-43m和23点群的立方晶体,立方晶体的上表面为(111)晶面;设被测的压力、应力或者加速度对应的应力为P,待测应力P作用方向垂直于立方晶体(111)晶面;
激光二极管准直光源发出的光,经起偏器起偏为偏振方向与晶体[111]晶向成45°角的线偏振光,线偏振光沿平行于晶体(111)晶面的方向入射晶体,则线偏振光因晶体双折射产生的相位延迟变成椭圆偏振光;椭圆偏振光经检偏器,输出的光信号被光电探测器探测转换为电信号输出给信号处理电路,信号处理电路对电信号进行降噪处理和检测,得到电压Uo;信号处理电路将电压Uo输入电压比较器,在电压比较器中与参考电压Uom比较,输出电压偏差量ΔU给调制电压控制器;调制电压控制器根据电压偏差量ΔU调制施加在立方晶体上下面的电压U,使得ΔU=0,此时施加在立方晶体上下面的电压U对应产生的电场E0为:
调制电压U经过输出显示单元变换和显示,作为传感器的输出信号,根据U进一步得到待测应力P。
2.根据权利要求1所述的光学晶体型压力、应力或加速度传感器,其特征在于,所述的传感元件采用闪烁锗酸铋(Bi4Ge3O12)晶体、闪烁硅酸铋(Bi4Si3O12)晶体、锗酸铋(Bi12GeO20,)晶体、硅酸铋(Bi12SiO20)晶体或者钛酸铋(Bi12TiO20)晶体。
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