[发明专利]光耦合器测试系统

权利要求书

1.一种光耦合器测试系统(212)，包括：

光信号源(214)，其配置为产生光信号(222)；

光信号探测器系统(216)，其配置为探测所述光信号(222)；

转换系统(218)，其配置为将所述光信号(222)从所述光信号源(214)引导至光耦合器(202)中的输入(208)和将所述光信号(222)从所述光耦合器(202)的输出(210)引导至所述光信号探测器系统(216)；和

控制器(220)，其配置为自动控制所述转换系统(218)，以选择所述光耦合器(202)中的输入(208)用于传输所述光信号(222)进入所述光耦合器(202)，选择所述光耦合器(202)中的所述输出(210)用于测量自所述光耦合器(202)输出的光信号(222)，和测量来自所选择的所述输出(210)的光信号(222)，以形成测量(233)，

其中所述转换系统(218)配置为引导电流至与所述光耦合器(202)中所述输出(210)中所选择的输出相连的发光二极管(300)，所述所选择的输出连接至所述光耦合器(202)中所述输入(208)的所选择的输入，其中所述发光二极管(300)传输所述光信号(222)至所述光耦合器(202)中所述输入(208)的所选择的输入并且所述光信号探测器系统(216)接收来自所述光耦合器(202)中所述输出(210)的所述光信号(222)。

2.根据权利要求1所述的光耦合器测试系统，其中所述测量(233)包括所述光信号(222)的强度，并且所述控制器(220)进一步配置为从所述测量(233)识别所述光信号(222)中光(224)强度(226)的损失。

3.根据前述任一权利要求所述的光耦合器测试系统，其中所述控制器(220)配置为接收所述光耦合器(202)的分布图(232)并且使用所述分布图(232)自动控制所述转换系统(218)，以选择所述光耦合器(202)中的输入(208)用于传输所述光信号(222)进入所述光耦合器(202)，并且选择所述光耦合器(202)中的所述输出(210)，用于测量自所述光耦合器(202)输出的所述光信号(222)。

4.根据权利要求1所述的光耦合器测试系统，进一步包括：

输入端(840)，其连接至所述光信号源(214)，其中所述输入端(840)配置为连接至所述光耦合器(202)中的所述输入(208)；和

输出端(828)，其连接至所述光信号探测器系统(216)，其中所述输出端(828)配置为连接至所述光耦合器(202)中的所述输出(210)。

5.根据权利要求4所述的光耦合器测试系统，其中所述光信号源(214)包括：

多个发光二极管(706)，其与所述输入端(840)相连；和

多个光探测器(708)，其与所述输出端(828)相连，其中所述多个光探测器(708)配置为测量所述光信号(222)，其中所述多个光探测器(708)配置为从所述光信号(222)产生电流并且其中基于所述光信号(222)的强度(226)产生电流水平。

6.根据权利要求4所述的光耦合器测试系统，其中所述转换系统(218)配置为选择所述光耦合器(202)的所述输出端(828)中的输出端，其中测量在所述输出端的光强度损失。

7.根据权利要求1、4或6所述的光耦合器测试系统，其中所述光耦合器(202)是星型耦合器(206)。