[发明专利]一种FPGA片上DLL电源有效
申请号: | 201310259363.2 | 申请日: | 2013-06-26 |
公开(公告)号: | CN103297022A | 公开(公告)日: | 2013-09-11 |
发明(设计)人: | 何弢 | 申请(专利权)人: | 成都鸿芯纪元科技有限公司 |
主分类号: | H03K17/945 | 分类号: | H03K17/945;H03K19/094 |
代理公司: | 成都高远知识产权代理事务所(普通合伙) 51222 | 代理人: | 李高峡;全学荣 |
地址: | 610041 四川省成都市*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 fpga dll 电源 | ||
技术领域
本发明涉及微电子领域,尤其涉及一种FPGA片上DLL电源。
背景技术
集成电路的功耗问题是一个热量问题。所以一切和热量有关的问题,都可能导致芯片功耗的变化。但是在自然环境中,热问题又是一个最为普遍的现象。对于半导体集成电路,这些问题也是同样存在的。自然界的能量总是在不停的转化,芯片通电之后,很多电能要转化为热能。对于规模比较小的芯片,这种转化过来的能量不会对芯片造成致命的伤害。但是对于规模庞大的芯片,比如CPU、GPU、FPGA,出现功耗过大的问题是不可避免的,并且巨大的热量会对芯片造成严重的,不可恢复的破坏。而且,半导体工艺技术的不断进步,芯片特征尺寸的不断减小,不断的提高芯片的速度不再是一个好的选择,人们需要一些能效比较高的电路和工艺技术,来保持半导体行业的快速发展。
功耗问题在FPGA中是一个可靠性的设计,电源的消耗量依赖于内部逻辑的转变数量和适当的工作时钟频率。芯片规模增加,电源的消耗量也增加。一个普通的大规模高速的FPGA芯片设计要求有几个安培的电源电流。没有一个精确的热量分析,热量的增加容易超过允许的最大结温,给芯片造成不可恢复的破坏。功耗问题的考虑是为了成功的设计完整性。芯片内部电源耗散是芯片热量的重要来源,主要包括以下几种方式:
Dynamic Switching Power(动态开关功耗):是芯片内部节点电压跃迁时对寄生电容充放电所引起的动态开关功耗。
Short-Circuit Power(短路功率)是CMOS晶体管栅极的上拉和下拉网络同时打开时输入信号跃迁产生的瞬态功耗。
发明内容
本发明旨在提供一种FPGA片上DLL电源,由于降低FPGA芯片运行过程中的动态开关功耗和瞬态功耗。
为达到上述目的,本发明是采用以下技术方案实现的:
本发明公开的FPGA片上DLL电源,包括依次连接的参考电压电路、单位增益缓冲器、低通滤波器和稳压器;所述参考电压电路用于提供1.2V和1.8V的双基准电压,所述单级增益缓冲器用于提高基准电压的输出反馈驱动和交流电压增益,所述低通滤波器用于去除基准电压的高频分量,稳定电源电压,所述稳压器为DLL的延迟反向器提供2V的电源,并提供反馈补偿。
进一步的,还包括外部输入信号CTL1、CTL3、GHIGH_B、SRAM2;所述CTL1、CTL3来自FPGA芯片的配置电路的CTL寄存器,GHIGH_B信号是全局置高信号,低电平有效,可以被配置电路CMD寄存器控制,在正常情况下保持高电平,SRAM2来自FPGA芯片的配置点。
进一步的,所述参考电压电路以带隙基准源为核心组成,利用芯片的全局电源中输入的2.5V电压和PNP晶体管的带隙特性产生稳定的1.2V基准电压。
进一步的所述稳压器为带有反馈和补偿功能的直流电源。
优选的,所述参考电压电路包括八个PMOS管P1、P2、P3、P4、P5、P6、P7、P8,五个NMOS管N1、N2、N3、N4、N5,三个PNP管PNP1、PNP2、PNP3,二个电阻R1、R2,电容C1,三个反相器INV1、INV2、INV3;外部输入信号CTL1与PMOS管P1、P3、NMOS管N1的栅极、反相器INV3的输入端连接,PMOS管P1的漏极连接与PMOS管P2、P4、P6、P7、P8、NMOS管N2的栅极、PMOS管P2、P7的漏极、NMOS管N5的源极连接,PMOS管P3的漏极与PMOS管P4的漏极、NMOS管N1的源极、反相器INV1的输入端,NMOS管N1的漏极连接NMOS管N2的源极,反相器INV1的输出端连接反相器INV2的输入端,反相器INV2的输出端连接PMOS管P5的栅极,反相器INV3的输出端连接NMOS管N3的栅极,PMOS管P5的漏极与NMOS管N3、N4的源极、NMOS管N5的栅极、PMOS管P6的漏极连接,NMOS管N4的漏极连接PNP管PNP1的发射极,NMOS管N5的漏极连接电阻R1的一端,电阻R1的另一端连接PNP管PNP2的发射极,PMOS管P8的漏极输出基准电压Vref并连接电阻R2的一端,电阻R2的另一端连接PNP管PNP3的发射极,PMOS管P1、P2、P3、P4、P5、P6、P7、P8的源极均连接电源VDD,NMOS管N2、N3的漏极、PNP管PNP1、PNP2、PNP3的基极和集电极均连接电源地,电容C1连接在基准电压Vref与电源地之间。
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