[发明专利]一种荧光激发测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及光电检测技术领域，特别是指一种荧光激发测试装置。

背景技术

荧光激发测试装置，是通过激励待测物质发光，并测试其被激发光（通常为荧光）的光谱，以测得该待测物质的光参数的测试装置。

参照附图1，为现有技术的荧光激发测试装置的结构示意图。

现有技术的荧光激发测试装置，包括激发光源101，用于曝光和测量的暗箱102，在暗箱102内靠近激发光源101下方设置可调光阑103，在激发光源101下方设有放置荧光粉试样的粉盘104，在暗箱102上设置有测量仪表相连的发射光接收装置105。

该测试装置通过激发光源101发光，经过可调光阑103照射到粉盘104中的荧光粉试样，该荧光粉试样受到光源激发而发射出荧光，通过发射光接收装置105接收光源及所述荧光的混合光的光谱，并最终得到荧光粉试样的各项光参数。

该测试装置的缺点在于：测试前，需要将荧光粉添加到粉盘104中，将荧光粉压实，并利用辅助工具将荧光粉的上表面刮平，以使得光源照射到荧光粉上表面后，被激发的荧光能够均匀发射；但是，这种方法存在很多缺陷：

1）由于这种装样方法必须把荧光粉压实，否则荧光粉表面会不平整；但由于每次人工压实的力量不同，会导致荧光粉表面密度不同，这样不同次的测试中，在激发光照射到荧光粉表面时，荧光粉受激发而产生的发射光则会存在误差。

2）很难保证荧光粉表面的平整度，经常会出现划痕或者凹坑，这就导致荧光粉受到激发后的发射光方向出现偏差。同时，由于发射光接收装置105是与光源轴线呈45度角设置的，导致发射光接收装置105所接收的光的偏差增大。并且，激发光源只有一个，这也会导致照射到荧光粉表面照射度不均匀。

3）由于每次对荧光粉压实力量的不同，会导致荧光粉表面的位置有高低之分，因此，每次测试时，荧光粉受激发而产生的发射光的传输距离则不同；根据朗伯比尔定律，光损失距离平方成反比，因此，每次测试之间光损失的不同则会导致测试结果的误差。

综上所述，采用现有技术进行荧光激发测试，其最终的测量结果误差较大，可参考性大大降低。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提出一种荧光激发测试装置，其测量结果准确，具有很高的参考价值。

基于上述目的本发明提供的荧光激发测试装置，包括用于光屏蔽的暗箱、设置于所述暗箱顶部的用于放置被测试样的试样盘、设置于所述暗箱底部的多个激发光源，以及设置在所述试样盘与激发光源之间且位于所述暗箱中部的光接收器；其中，所述试样盘底部为透明的，所述多个激发光源对称分布在所述暗箱底部；所述多个激发光源发出激发光，经过所述试样盘透明底部照射到其中的被测试样并激发其发出被激发光，所述光接收器采集所述激发光与被激发光的混合光。

在一些实施方式中，所述多个激发光源构成一环形光源，该环形光源的中心正对所述试样盘。

在一些实施方式中，所述环形光源的总功率为15W。

在一些实施方式中，所述暗箱下方设置有散热器。

在一些实施方式中，所述光接收器为光谱分析仪探头。

在一些实施方式中，所述暗箱顶部开口，所述试样盘为顶部开口的空心圆柱体，所述空心圆柱体外侧表面与所述暗箱顶部开口内侧表面紧密配合；所述试样盘顶部周围设置有突出于所述圆柱体的用于阻挡所述试样盘下落的阻挡机构，使得所述试样盘能够平稳放置于所述暗箱顶部。

在一些实施方式中，所述试样盘底部由石英玻璃制成。

在一些实施方式中，所述荧光激发测试装置还包括校准盘；所述校准盘的外形结构与所述试样盘相同；所述校准盘还包括放置于其中的已知参数的荧光粉。

在一些实施方式中，所述校准盘还包括用于将所述已知参数的荧光粉阻挡在所述校准盘之内的盖板，使得所述荧光粉保持一定厚度且不会撒出。

从上面所述可以看出，本发明提供的荧光激发测试装置，仅需要将待测试的被测试样放置到所述试样盘中，开启激发光源对其进行照射，激发其产生被激发光，并采用所述光接收器进行光谱采集即可完成测试。

其优点在于，在放置被测试样时，无需将被测试样表面用辅助工具将其刮平，因为测试时光是从下往上照射的，由于试样盘底部为透明且平整的，被测试样的下表面则保持了平整，即可保证激发光照射到被测试样的下表面时，不会因为有凹坑或划痕而产生偏差，其测量结果更加精准；同时，由于减少了用辅助工具将被测试样上表面刮平的步骤，则提高了测试效率。