[发明专利]一种磁控管漏脉冲测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种微波信号测试方法，尤其涉及一种磁控管测试方法。

背景技术

漏脉冲是磁控管测试中一项重要的电性能参数，对于脉冲宽度窄、重复频率高的毫米波磁控管，通常采用频谱分析仪进行漏脉冲的测试，而频谱分析仪又只能通过空间耦合的方式来收集谱线信号，采用此方法进行测试时，用肉眼估计掉线幅度来确定漏脉冲的严重程度，当漏脉冲数量较多时，就无法准确测量漏脉冲的数量，因此，采用频谱仪测试方法获得的漏脉冲测试数据不全面，只能定性的反映出漏脉冲情况；不能准确地反映漏脉冲情况。

发明内容

本发明目的是提供一种能够定量测试磁控管漏脉冲数量的测试方法。

本发明的主要内容是：一种磁控管的漏脉冲测试方法，其特征在于，测试方法包括如下步骤：

1）利用示波器的平均功能，求出规定时间内（平均次数不少于256次）的磁控管输出的微波信号脉冲波形的平均值，作为参考信号。

2）将磁控管测试系统通过定向耦合器与可变衰减器相连，将磁控管输出的微波信号输入至可变衰减器，在所述可变衰减器输出端的信号，能使检波器工作在线性检波区；

3）所述可变衰减器输出的信号通过检波器得到脉冲信号，并将所述脉冲信号输入示波器，

4）在规定时间内将所述脉冲信号与参考信号进行对比，判断是否为漏脉冲并统计出漏脉冲数。

所述的磁控管漏脉冲测试方法中，统计漏脉冲数可以通过计数器或者计算机进行统计。

通常所述漏脉冲的判断方法是：所述脉冲信号前沿的宽度超过参考信号前沿宽度的±10%，或（和）所述脉冲信号后沿的宽度超过参考信号后沿脉冲宽度的±5%，或（和）所述脉冲信号顶部高度超过所述参考信号顶部幅度的±10%，在图2中，超过参考信号边界的信号是漏脉冲信号。

附图说明

图1  漏脉冲测试系统连接框图

图2  参考信号图

图中1—参考信号，2—参考信号前沿，3—参考信号后沿，4—参考信号顶部，5—参考信号边界。

具体实施方式

利用示波器的平均功能，求出规定时间内（平均次数不少于256次）的磁控管输出的微波信号脉冲波形的平均值，作为参考信号，参考信号见图2中1，超过参考信号边界的信号即为漏脉冲信号

将磁控管按图1进行连接，注意调整可变衰减器，保证检波器工作在线性检波区。

将示波器设置好并清零后开始测试，规定漏脉冲测试时间为3min。

在3min内将所述脉冲信号与参考信号进行对比，判断是否为漏脉冲并统计出漏脉冲数。

这里漏脉冲的判断标准是：所述脉冲信号前沿的宽度超过参考信号前沿宽度的±10%，或（和）所述脉冲信号后沿的宽度超过参考信号后沿脉冲宽度的±5%，或（和）所述脉冲信号顶部高度超过所述参考信号脉冲幅度的±10%，则所述脉冲信号是漏脉冲信号。图2中，超过参考信号边界的信号即为漏脉冲信号。

实际检验工作中，本发明所述的测试方法使用方便、操作灵活、工作效率高、测试数据一致性好，准确地反映漏脉冲情况。