[发明专利]基于多CIS大幅面扫描仪的图像校正方法有效

专利信息
申请号: 201310268475.4 申请日: 2013-06-28
公开(公告)号: CN103297654A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 刘霖;唐雪松;杨先明;陈德勇;刘娟秀;陈镇龙;谭良;凌云;邓可云;阳春波 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H04N1/031 分类号: H04N1/031;H04N1/409;H04N1/60
代理公司: 成都华典专利事务所(普通合伙) 51223 代理人: 徐丰;杨保刚
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 cis 大幅面 扫描仪 图像 校正 方法
【权利要求书】:

1.基于多CIS大幅面扫描仪的图像校正方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)准备一张校正纸,该校正纸上有M段不同的图像,且该M段图像中包含RGB通道的像素值为255的纯白段图像,M为自然数;

(2)将CIS传感器中N根CIS每个通道的曝光时间均设置为CIS传感器所支持的最大曝光时间,在所选的曝光时间下,对纯白段图像进行扫描得到其图像信息,N为自然数;

(3)根据步骤(2)得到的图像信息,分别求出每根CIS中R、G、B三个通道各自的像素值的平均值,并在所有CIS中找出平均值最小的那个通道,以该通道的平均值作为基准值,同时将该通道的最佳曝光时间记为当前的曝光时间,重新调整其他剩余通道的曝光时间并得到对应的像素值的平均值,利用|平均值-基准值|是否小于3判断其他通道的曝光时间是否为最佳曝光时间,是,则判断该通道当前的曝光时间为其最佳曝光时间,否,则调整该通道的曝光时间,重新得到相应的像素值的平均值,并继续计算,直到|平均值-基准值|<3;

(4)根据步骤(3)获得的最佳曝光时间下扫描校正纸中的其余段图像,得到N根CIS在每段图像中各自的RGB通道的每个光敏单元i的响应输出Yi(w),同时得到每段图像的理论响应输出Ci(w),其中,w表示所选取的那段图像的RGB通道的理论像素值;

(5)取出其中两段图像距离最大的两个端点的光敏单元的响应输出Yi(w1)和Yi(w2),以及该两段图像的端点的实际响应输出Ci(w1)和Ci(w2),将Ci(w1)和Ci(w2)均对应到相应图像的端点的像素值,即令Ci(w1)=w1,Ci(w2)=w2,利用公式Gi=Ci(w2)-Ci(w1)Yi(w2)-Yi(w1)Oi=Yi(w1)Ci(w2)-Ci(w1)Yi(w2)Yi(w1)-Yi(w2)]]>计算出该两段图像的增益系数和偏移系数,其中,Gi为增益系数,Oi为偏移系数;

(6)根据步骤(5)求得的Gi和Oi,取出该两段图像中其他点的光敏单元的响应输出Yi(w),并利用公式Ci(w)=GiYi(w)+Oi分别计算出该两段图像中其他点的实际响应输出,根据求得的Ci(w)对相应的点进行校正;

(7)按照步骤(6)的方式分别计算校正纸中其余每两段图像之间的增益系数和偏移系数,计算出相应点的实际响应输出,并对计算出的实际响应输出进行校正;

(8)结合步骤(6)、(7)得出的实际响应输出,完成对整个扫描图像的校正。

2.根据权利要求1所述的基于多CIS大幅面扫描仪的图像校正方法,其特征在于,所述步骤(3)包括以下步骤:

(3a)分别计算每根CIS中所有的R通道、G通道、B通道各自像素值的平均值;

(3b)找出所有CIS中平均值最小的那个通道,将该最小平均值记为基准值,并记录该通道的最大曝光时间为其最佳曝光时间,同时调整其他通道的曝光时间,并重新得到其他通道的像素值的平均值;

(3c)将其他通道的像素值的平均值根据|平均值-基准值|判定每个通道各自设置的曝光时间是否为最佳曝光时间,若某个通道的|平均值-基准值|>3,则利用公式(T-S)调整该通道的曝光时间,得到相应的像素值的平均值,并继续计算,直到|平均值-基准值|<3;其中,T为上一次所设置的曝光时间,S为调整步伐;若某个通道的|平均值-基准值|<3,则记录该通道本次所选的曝光时间为其最佳曝光时间。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310268475.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top