[发明专利]一种TCN网络MVB总线物理层一致性测试系统及方法有效
申请号: | 201310269792.8 | 申请日: | 2013-06-28 |
公开(公告)号: | CN103354511A | 公开(公告)日: | 2013-10-16 |
发明(设计)人: | 刘博;李鑫;韦巍 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | H04L12/26 | 分类号: | H04L12/26 |
代理公司: | 杭州中成专利事务所有限公司 33212 | 代理人: | 周世骏 |
地址: | 310027 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 tcn 网络 mvb 总线 物理层 一致性 测试 系统 方法 | ||
1.一种TCN网络MVB总线物理层一致性测试系统,包括上位机,其特征在于,还包括MVB总线物理层一致性测试仪和被测设备;
所述MVB总线物理层一致性测试仪包括电源模块、控制与接口模块和高速AD-DA模块;
电源模块用于提供MVB总线物理层一致性测试仪所需的5V,+-12V电源;
高速AD-DA模块包括高速AD模块和高速DA模块,高速AD-DA模块通过PCI总线和上位机相连接;高速AD模块包括一块双通道的AD板卡,并设有AD接口0、AD接口1,两个接口用于连接控制与接口模块;高速DA模块包括一块单通道的DA板卡,并设有DA接口0,用于连接控制与接口模块;
控制与接口模块包括接口模块和控制模块;接口模块设有与高速AD模块相连接的AD接口00、AD接口11,与高速DA模块相连接的DA接口00,与上位机相连的RS232接口,与被测设备相连接的两个9针SUB-D接口,接口模块还设有独立的接口电路模块,用于与高速AD-DA模块或被测设备构成测试电路;控制模块包括核心控制模块、继电器模块、高速模拟开关模块和信号调理模块;核心控制模块包括板上CPU,其IO口的电平高低变化由上位机控制;继电器模块包括继电器,各继电器用于通过通断控制各接口电路独立接入测试电路并按需求进行切换,继电器模块与板上CPU的IO口相连,并通过IO口的电平变化控制各继电器的通断;高速模拟开关模块用于信号波形测试时信号调理模块、高速DA模块快速的接入和断开,高速模拟开关模块中的高速模拟开关的接入和断开,由板上CPU的IO口电平高低决定;信号调理模块用于调理高速DA模块产生的波形;
上位机上设有测试软件功能模块,各测试软件功能模块分别用于控制控制与接口模块中的板上CPU的IO口电平和进行数据的处理分析。
2.根据权利要求1所述的一种测试系统,其特征在于,所述被测设备分为ESD和EMD介质两类,即单线结构用于短距离传输的电介质和用于中距离传输的电介质,并通过两个9针的Sub-D的连接器接入MVB总线物理层一致性测试仪。
3.一种利用权利要求1所述测试系统进行的测试方法,包括上位机、MVB总线物理层一致性测试仪和被测设备的连接,其特征在于,所述测试方法的具体步骤如下所示:
步骤A:首先将上位机用PCI总线与高速AD-DA模块相连接,将上位机通过RS232接口与控制与接口模块相连接,连接高速AD-DA模块和控制与接口模块,将被测设备通过两个9针的Sub-D的连接器接入MVB总线物理层一致性测试仪;然后接通电源,MVB总线物理层一致性测试仪开始工作,板上CPU等待上位机通过RS232接口传送来的控制信号,继电器模块中的各继电器断开,高速模拟开关断开,并等待板上CPU的IO口电平变化,接口模块和信号调理模块未上电;
步骤B:打开上位机中的测试软件功能模块,选择相应的测试项点击测试,上位机通过RS232接口发出信号,控制板上CPU的IO口电平的变化,进而控制继电器模块中的相应继电器闭合,将所需的相应测试项的接口模块和被测设备接入测试电路;
步骤C:测试电路构建完成后,高速DA模块由上位机控制根据测试项分别产生MVB的标准帧、畸变帧、错误帧和正弦波,并通过DA接口0和控制与接口模块的DA接口00连接,高速DA模块产生的信号经信号调理模块调整后,发送至被测设备;高速AD模块由上位机控制采集相关电压、电流数据和被测设备接收信号后发回的波形信号,数据采集完成后,高速AD模块经PCI总线传送回上位机;
步骤D:上位机接收高速AD模块发回的数据,通过相应的测试软件功能模块进行分析处理,得出测试结果,包括测试报告和相关波形图像。
4.根据权利要求3所述的一种测试方法,其特征在于,所述步骤B中,信号调理模块与高速DA模块的接入视测试项而定,由高速模拟开关模块控制,高速模拟开关连通时,信号调理模块、高速DA模块被接入。
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