[发明专利]CCD相机强度-涨落关联成像方法有效
申请号: | 201310277904.4 | 申请日: | 2013-07-03 |
公开(公告)号: | CN104284180A | 公开(公告)日: | 2015-01-14 |
发明(设计)人: | 徐卓;杜磊;周宇;刘建彬 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00;H04N5/235 |
代理公司: | 西安文盛专利代理有限公司 61100 | 代理人: | 李中群 |
地址: | 710049 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | ccd 相机 强度 涨落 关联 成像 方法 | ||
1.一种CCD相机强度-涨落关联成像方法,其特征在于包括以下步骤:
1.1将具有电荷耦合器件CCD(2)的CCD相机光学系统(1)的镜头对准待测目标(7)取景,对待测目标(7)照相曝光后,电荷耦合器件CCD(2)通过CCD相机光学系统(1)接收到待测目标(7)反射或发射光子并将其转化为电信号;
1.2将CCD各像素单元曝光光子数的输出信号按时序用数据采集卡(3)采集并存储,通过计算机(4)及软件将曝光时间划分为若干短时间窗口,根据各像素单元在各时间窗口内的光子总数计算每个像素单元的平均光子数,将各像素单元时间窗口平均光子数与各时间窗口光子数比较,大于或小于平均值的数值为涨落,且据此对像素单元时间窗口内的数据分类:大于平均值的为正,小于平均值的为负;
1.3在各像素单元中选定的两个像素单元,用计算机(4)及软件对于选定的两个像素单元就同步时间窗口中的光子数或涨落的乘积进行计算:分别计算正-正、负-负、正-负、负-正的乘积,并将其按像素单元在曝光时间内归一化;
1.4按照像素单元间光场强度涨落-涨落关联公式和光场强度-强度关联公式的统计计算公式分别计算所选定的两个像素单元之间的光子数(光场强度)-光子数(光场强度)关联或涨落-涨落关联;
1.5利用以上计算获得的两个像素单元之间的光子数-光子数关联或涨落-涨落关联的结果,按照热光关联成像原理和方法,即可在图像显示器(6)或图像输出设备中得到目标的关联像。
2.根据权利要求1所述的CCD相机强度-涨落关联成像方法,其特征在于:通过计算机及软件将CCD接收光时间均匀划分为小的时间段,即标记为Δt1,Δt2,…,Δtj,…的时间窗口,由步骤1.1得到的光子测量数据信息首先存储到CCD的寄存器中,然后通过计算机(4)与CCD的接口在一系列短的时间窗口内由数据采集卡(3)按各像素单元曝光光子数输出信号时序采集并存储;在各像素单元中选定的两个像素单元A和B,像素单元A和B接收照射光子的计数分别为njA和njB,j是时间窗口编号;利用计算机或图像卡软件计算CCD每个像素单元接收光时间内的平均光子数目和接着,使每个像素单元中的平均光子数与各时间窗口中实际光子数进行比较,将每个时间窗内的光子数分为“正”和“负”,即“正”、“负”确认:
其中j表示窗口编号,α=A,B,光子数及其涨落n和Δn分别对应于光场强度和它的涨落;
将两个像素单元的光场强度及其涨落组合分组:正的为一组,负的为另一组,即,和表示两个像素单元都是正和都是负,和表示两个像素单元的涨落都是正和都是负,分别对应于和和
在A和B像素单元和通道时间窗同步校准之后,计算两个像素单元之间同步时间窗内强度涨落-涨落关联的数值
或在每个同步的时间窗中计算得到A和B两个像素单元之间四个强度-强度关联的数值
由照相过程中CCD测量的数据得到两两像素单元间归一化的光场强度涨落-涨落关联和光场强度-强度关联的数值
其中S,S′=P,N,Nwin是照相时间内同步短时间窗的总数;
像素单元A和B之间光场强度涨落-涨落关联BFF和光场强度-强度关联BPN的统计计算分别按照下面公式进行
按照热光关联成像原理和方法,由上式计算得到的光场强度涨落-涨落关联和光场强度-强度关联与CCD像素单元对应,其中为0的像素单元,不显示图像,即背景;不为0像素单元为图像的一个像素,据此即可在图像显示器(6)或图像输出设备中得到目标的关联像。
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