[发明专利]通过相同结构的光接收二极管识别紫外线发光二极管的发射辐射有效
申请号: | 201310278368.X | 申请日: | 2013-07-04 |
公开(公告)号: | CN103528939A | 公开(公告)日: | 2014-01-22 |
发明(设计)人: | 贝恩德·鲁道夫;彼得·马尔希 | 申请(专利权)人: | 阿特拉斯材料测试技术公司 |
主分类号: | G01N17/00 | 分类号: | G01N17/00 |
代理公司: | 上海翰鸿律师事务所 31246 | 代理人: | 李佳铭 |
地址: | 德国灵森*** | 国省代码: | 德国;DE |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 通过 相同 结构 接收 二极管 识别 紫外线 发光二极管 发射 辐射 | ||
技术领域
本发明涉及一种用于进行试样的人工风化或耐光性检验的装置、一种紫外线照射装置和一种运行一种用于进行试样的人工风化或耐光性检验的装置的方法。
背景技术
在人工风化装置中对试样、尤其是平面的材料试样的在大气环境下的老化状态进行评估,其中对试样进行人工风化。为达到这一目的,上述装置通常包含风化室,其中设置有用于固定进行风化的试样的固定装置以及用于对试样进行辐照、尤其是紫外线辐照的辐射源。
在对材料试样进行人工风化或耐光性检验的此类装置中大多必须对材料的使用寿命进行评估,这些材料在使用过程中持续处在自然的天气环境中,并且在气候影响下其状况逐渐变差,上述气候影响包括太阳光、太阳热、潮湿等。为真实模拟自然的气候条件,有利的是,在装置中产生的光线的光谱能量分配尽可能符合自然光照的光谱能量分配,因此在此类设备中一直使用氙气辐射器作为辐射源。此外,在材料的慢速拍摄的老化试验中基本上是对试样进行比自然条件下更密集的辐照,以使试样老化。由此在较短时间后即可就材料试样的长期老化状态做出结论。
大部分在人工风化设备中进行试验的材料试样都由聚合材料制成。其中受大气影响的老化基本上是由阳光辐射中的紫外线比例造成的。在此进行的光化学的源过程,也就是照片的吸附和活跃态或自由基的产生,都是不受温度影响的。与此相反,后续的与聚合物或添加剂的反应步骤是受温度影响的,因此,所观察的材料的老化也同样是受温度影响的。
在至今已知的风化试验设备中大多使用氙气灯作为辐射源。众所周知,使用氙气灯虽然不能很好地模拟太阳光谱,但是所发出的辐照在红外光谱范围中却包含比较高的光谱比例,为防止试样升温过大,必须使用过滤器过滤上述红外光谱。此外,市面通用的氙气辐射源的使用寿命只有约1500小时。
此外也可使用金属卤素灯作为辐射源,但是具有一个缺点,即它不可调节或非常难调节。具有同样特点的是荧光灯,它同样广泛地在风化检验设备中被使用为辐射源,但是不利的是它的使用寿命较短。
另外,所有提及的辐射源都具有一个缺点,即它的光谱不可改变。
上述风化检验设备的常规辐射源的另外一个缺点是其结构和控制方式相对不灵活,无法根据待辐照材料试样的表面的不同条件进行调整。
发明内容
因此本发明的任务在于,提供一个使用于人工风化或耐光性检验装置中的辐射装置,通过这一装置可很好地识别包含在装置中的紫外线发光二极管的发射辐射。
通过独立的权利要求书中所述的特性解决这一任务。在从属权利要求书中说明了本发明的有利设计和进一步方案。
根据第一方面,本发明涉及一种用于试样的人工风化或耐光性检验的装置,包含风化室,在风化室中设置有紫外线发光二极管(UV-LED)和紫外线光接收二极管。紫外线光接收二极管的材料基础与紫外线发光二极管相同,并相对于其紫外线发光二极管这样设置,使在装置运行过程中一部分由紫外线发光二极管发射的辐射到达紫外线光接收二极管。特别地,可以将紫外线光接收二极管的内部结构,尤其是半导体层结构设计成与紫外线发光二极管相同。
根据第二方面,本发明涉及一种紫外线辐射装置,它可使用在根据第一点的装置中。在这一装置的专利申请中根据第一方面说明的全部特性和进一步方案以相同方式对根据第二方面的紫外线辐射装置起作用。
本发明的基础认识是,可根据这一发明提供具有最大敏感性的紫外线光接收二极管,其结构与紫外线发光二极管相同,且用于识别发光二极管的发射辐射。此类紫外线光接收二极管可包含光谱吸收带,它基本上与紫外线发光二极管的光谱光照带相符合。特别地,可使紫外线光接收二极管的吸收带和紫外线发光二极管的光照带的最大值为一个相同的波长或至少二者相接近。
与其他设置方法相比,基本优势在于,通过使用上述说明的装置已经具有光谱方面特制的接收器。如使用光谱宽频的紫外线接收器,必须在紫外线接收器前设置一个紫外线发光二极管具有穿透性的过滤器,用于确定一个或多个不同的紫外线发光二极管的输出功率。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于阿特拉斯材料测试技术公司,未经阿特拉斯材料测试技术公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310278368.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:排气管天线
- 下一篇:一种基于随机网栅及透红外半导体的透红外辐射微带天线