[发明专利]基于信号源误差一次性校准识别的高精度ADC测试方法

权利要求书

1.一种基于信号源误差一次性校准识别的高精度ADC测试方法，本测试方法中利用低精度信号源对高精度ADC进行可靠性测试，其特征在于，本测试方法采用高于待测ADC分辨率的初测ADC作为初次测试对象，并对该作为初次测试对象的初测ADC的输出码进行处理并求取初测ADC的传输函数和信号源的非线性表达式，然后识别和校正信号源非线性表达式的非线性部分后基于给定的信号源非线性表达式测试具有较低分辨率的待测ADC。

2.根据权利要求1所述的基于信号源误差一次性校准识别的高精度ADC测试方法，其特征在于，测试设备在测试前，一次性经过校准算法消除由于低精度激励信号源引入的测试误差，从而实现低精度激励下的高分辨率ADC的快速测试。

3.根据权利要求1所述的基于信号源误差一次性校准识别的高精度ADC测试方法，其特征在于，本测试方法的具体测试过程如下：

通过选定的低分辨率信号源对选定的高精度初测ADC的输出码进行分析，以求解初测ADC的传输函数表达式和激励信号源的非线性表达式；

然后分析测试的高精度初测ADC噪声对测试结果精度的影响，主要包括量化误差、初测ADC的线性度以及包含热噪声等因素的高斯白噪声； 

通过误差分析和校准后，选择待测ADC来替换初次测试的高精度初测ADC，保证其他条件相同的情况下，利用前面的算法对待测ADC的输出码进行分析，相比于初次测试的过程，可以省略测试信号源表达式的步骤，和所需的用于相关分析的采样数据，直接用前面的修正的信号源非线性表达式代替，最后重复剩余的测试步骤。

4.根据权利要求1或2或3所述的基于信号源误差一次性校准识别的高精度ADC测试方法，其特征在于，对于最高分辨率为M比特的待测ADC，选取分辨率为待测ADC中的最高分辨率加上3比特后的一半即（M+3）/2比特的DAC作为信号源。