[发明专利]一种简易自动化半导体激光器偏振测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种半导体激光器偏振测试系统，具体涉及一种简易自动化半导体激光器偏振测试系统。 

背景技术

高功率、高效率、高亮度半导体激光二极管因其体积小、效率高寿命长、稳定可靠、使用成本低等优点，被广泛的应用于固体激光器及光纤激光器制造、工业、医疗、娱乐显示、国防、激光通讯与基础研究等领域。高功率、高效率、高亮度半导体激光二极管的应用对于我国工业、医疗、娱乐显示、国防等领域的产业升级换代至关重要，它不但能帮助提高工业等的生产效率，还能降低产品使用成本，既节能，又环保。 

大功率半导体激光器均采用应变量子阱结构，输出为线偏振光，测试输出激光的偏振，可以反应器件的半导体材料与谐振腔内部结构特性；半导体激光器的工业应用中，为提高半导体激光器的光束质量，常利用偏振耦合技术，将线偏振光耦合为圆偏振光。因此半导体激光器偏振的测量对激光器的性能检测和后期使用有非常重要的意义。 

《中国激光》“半导体激光器阵列偏振特性及其与应力关系的实验研究”（Vol.36,No.5,May,2009）中介绍了一种半导体激光器阵列偏振特性的测试方法，是激光光束经过偏振片照射到CCD相机上，将偏振片旋转90°，记录结果，得到偏振度的值，此方法无法判断偏振模式，偏振片无法承受大功率激光，难以测试大功率半导体激光器的偏振度。 

中华人民共和国国家知识产权局于2012年5月2号公开了公开号为CN 1024435422A的专利文献，名称为一种半导体激光器偏振测试系统。该系统对半导体激光器的激光进行压缩汇聚后通过偏振分光器件使P、S光分离，分光后的P、S方向上放置两个功率探测器探测功率。通过计算P、S功率比值，计算偏振值。 

中华人民共和国国家知识产权局于2012年5月30号公开了公开号为CN 202255839U的专利文献，名称为一种半导体激光器偏振测试系统。该系统对半导体激光器的激光进行分光，95%的光经过偏振片-会聚压缩后用光电探测器和数字万用表探测功率，通过旋转偏振片，记录万用表最大值和最小值，计算偏振值；5%的光经过偏振分光棱镜，用放置在P、S方向的两组光电探测器和数据采集卡，采集并比较P、S功率，判断激光器的主偏模式。 

以上两种方案中，第一种方案使用两个探测器探测P、S功率，难以消除两个探测器之间的误差；第二种方案，通过旋转偏振片，记录此过程中万用表的最大值和最小值，难以操作和自动化。 

发明内容

为解决上述问题，本发明的目的是提供一种简易自动化半导体激光器偏振测试系统，以快速、精确、自动化的测试并记录激光器的偏振值，可以适用于大批量半导体激光器产品的测试。 

样处理厂的告知系统为实现上述技术目的，达到上述技术效果，本发明通过以下技术方案实现： 

    一种简易自动化半导体激光器偏振测试系统，包括半导体激光器，所述半导体激光器出射端依次设置有组合光路、偏振棱镜和功率探测器，所述偏振棱镜通过皮带或齿轮传动与电机控制转动装置内的电机连接，所述电机控制转动装置包括所述电机和电机控制器，所述偏振棱镜通过限位开关与所述电机控制器连接，所述电机控制转动装置与所述功率探测器分别连接电脑。

    进一步的，所述组合光路由多组非球面镜组合而成。 

    进一步的，所述偏振棱镜为偏振PBS立方体分光器。 

    进一步的，所述电机控制转动装置还包括固定套件。     

本发明的有益效果是：

本发明操作简单，可避免不同探测器之间的误差，准确测量P、S方向功率值，即准确测量TM、TE两种激光模式的功率，棱镜固定装置带有90°限位，准确实现P、S分光的对应，即同一光束TM、TE两种模式的准确分离。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。本发明的具体实施方式由以下实施例及其附图详细给出。 

附图说明

图1为本发明的结构示意图。 

    图中标号说明： 

    1、半导体激光器，2、组合光路，3、偏振棱镜，4、功率探测器，5、电机控制转动装置，6、皮带，7、限位开关，8、电脑，9、电机，10、电机控制器。

具体实施方式

下面将参考附图并结合实施例，来详细说明本发明。 

    参见图1所示，一种简易自动化半导体激光器偏振测试系统，