[发明专利]用于皮肤自发荧光的反射探测式测量设备有效

专利信息
申请号: 201310283285.X 申请日: 2013-07-08
公开(公告)号: CN103536275A 公开(公告)日: 2014-01-29
发明(设计)人: 姜旭;G·V·帕帕岩 申请(专利权)人: 韩国电气研究院
主分类号: A61B5/00 分类号: A61B5/00;G01N21/64
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 宋海宁
地址: 韩国庆*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 用于 皮肤 自发 荧光 反射 探测 测量 设备
【权利要求书】:

1.一种用于皮肤荧光的反射探测式测量设备,所述反射探测式测量设备被构造为对参考样本和测量目标执行光辐照和光探测,所述设备包括:

第一光源,所述第一光源辐照激发光;

第二光源,所述第二光源辐照与来自第一光源的光的波长不同的波长的光;

第一光学探测器和第二光学探测器,所述第一光学探测器和第二光学探测器被设置为对于荧光信号和反射光信号探测两个不同的波长;

光源开关控制器,所述光源开关控制器用于控制第一光源和第二光源的开启/关断;和

运算器,所述运算器根据第一光学探测器和第二光学探测器探测的荧光信号和反射光信号计算经过校正的皮肤荧光信号,

其中,所述第二光源辐照与通过来自第一光源的激发光而被激发并且被发射的皮肤荧光相同波长范围的光。

2.根据权利要求1所述的反射探测式测量设备,还包括:

光学棱镜,所述光学棱镜被构造为将从光源辐照的激发光发送到测量目标,并将荧光信号发送到光学探测器,

其中,所述光学棱镜具有与测量目标连接的下表面以及光源和光学探测器被设置在其上的两个或更多个上表面。

3.根据权利要求2所述的反射探测式测量设备,还包括设置在光学棱镜的下表面下方并且接触测量目标的光学连接器。

4.根据权利要求3所述的反射探测式测量设备,其中,所述光学连接器包括在光学棱镜与测量目标之间的由液态材料或弹性材料形成的连接层。

5.根据权利要求2所述的反射探测式测量设备,其中,所述光学棱镜包括两个倾斜表面和与测量目标相邻的下表面,并且是具有三角形截面的三角形棱镜。

6.根据权利要求5所述的反射探测式测量设备,其中,所述第一光源和第二光源被设置在光学棱镜的一个上倾斜表面上方,并且所述第一光学探测器和第二光学探测器被设置在光学棱镜的另一个上倾斜表面上方。

7.根据权利要求2所述的反射探测式测量设备,其中,所述光学棱镜包括两个上倾斜表面、与所述两个上倾斜表面连接的上表面、以及与测量目标连接的下表面,并且是具有梯形截面的梯形棱镜。

8.根据权利要求7所述的反射探测式测量设备,其中,所述第一光源和第二光源被设置在光学棱镜的一个上倾斜表面上方,并且所述第一光学探测器和第二光学探测器被设置在光学棱镜的另一个上倾斜表面上方。

9.根据权利要求7所述的反射探测式测量设备,其中,所述第一光源和第二光源分别被设置在光学棱镜的一个上倾斜表面和另一个上倾斜表面上方,并且所述第一光学探测器和第二光学探测器被设置在光学棱镜的上表面上方。

10.根据权利要求7所述的反射探测式测量设备,其中,所述第一光学探测器和第二光学探测器分别被设置在光学棱镜的一个上倾斜表面和另一个上倾斜表面上方,并且所述第一光源和第二光源被设置在光学棱镜的上表面上方。

11.根据权利要求2所述的反射探测式测量设备,其中,所述光学棱镜包括四个上倾斜表面、与所述四个上倾斜表面连接的上表面、以及与测量目标相邻的下表面,并且是具有梯形截面的四角锥的截头椎体。

12.根据权利要求11所述的反射探测式测量设备,其中,所述第一光源和第二光源分别被设置在光学棱镜的两个上倾斜表面上方,并且所述第一光学探测器和第二光学探测器分别被设置在光学棱镜的其他上倾斜表面上方。

13.根据权利要求12所述的反射探测式测量设备,其中,所述第一光源和第二光源被设置在彼此相对的两个上倾斜表面上方,并且所述第一光学探测器和第二光学探测器被设置在彼此相对的其他上倾斜表面上方。

14.根据权利要求2所述的反射探测式测量设备,还包括分别设置在光学棱镜与光源之间以及光学棱镜与光学探测器之间的偏振器和交叉偏振器。

15.根据权利要求1所述的反射探测式测量设备,还包括具有四个侧面和一个底面的角锥形支架,

其中,所述第一光源、第二光源、第一光学探测器和第二光学探测器分别被设置在所述四个侧面之一中。

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