[发明专利]一种低压非带隙基准电压源无效
申请号: | 201310288124.X | 申请日: | 2013-07-10 |
公开(公告)号: | CN103399606A | 公开(公告)日: | 2013-11-20 |
发明(设计)人: | 周泽坤;刘德尚;许天辉;张其营;张晓敏;石跃;明鑫;王卓;张波 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G05F1/56 | 分类号: | G05F1/56 |
代理公司: | 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 | 代理人: | 李顺德 |
地址: | 611731 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 低压 非带隙 基准 电压 | ||
技术领域
本发明涉及集成电路技术,特别涉及用于集成电路的低压非带隙基准电压源。
背景技术
基准电压源是集成电路芯片中非常重要的单元模块电路,它为芯片中诸多功能模块提供高精度的基准电压,如振荡器、锁相环、数模转换器等电路。基准电压的稳定性直接决定着整个电路性能的优劣。为了满足电路在恶劣的外部温度环境下可以正常工作,基准电压源必须具有非常高的温度稳定性,即非常小的温度系数。
传统的带隙基准电压源的工作原理是利用具有正温系数的热电压VT,与具有负温系数的双极型晶体管基极发射极电压VBE相互抵消,即基准电压VREF=VBE+KVT,从而实现高温度稳定性的基准电压,其中系数K通过修调集成电路中的电阻阻值进行校正。但是由于VBE与温度的非线性关系,高阶温度系数导致基准电压在高温时出现较大偏差,往往需要进行复杂的高阶温度补偿设计。大大增加了电路设计难度,并且由于使用BJT(双极型晶体管)器件,芯片的面积比较大。正如文献“Ze-Kun Zhou,Yue Shi,Pei-Sheng Zhu,et al.A 1.6-V 25-uA 5-ppm/℃ Curvature-Compensated Bandgap Reference,IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS:2012,677-684.”中提出了一种带隙基准电压源,采用高阶曲率补偿技术对高温时的非线性问题进行了补偿,得到了较低的温度系数,但可以看出电路设计难度较大,并且实现BJT器件需要较大的芯片面积。为了避免带隙基准所带来的问题,非带隙CMOS基准电压源逐渐成为了研究者的热门研究方向,正如文献“Ueno,K.,Hirose,T.,Asai,T.,Amemiya,Y.A 300nW,7ppm/℃ CMOS Voltage Reference Circuit based on Subthreshold MOSFETs,IEEE Journal of Solid-State Circuits:2009,2047-2054.”中提出的一种非带隙CMOS基准电压源,阈值电压提取电路所需要的最低工作电压受到限制,而且其输出基准电压固定为阈值电压VTH0,不仅没有可调性,而且受工艺影响很大。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有基准电压源存在的上述问题,提出了一种低压非带隙基准电压源。
本发明的技术方案是,一种低压非带隙基准电压源,包括由CMOS晶体管电路构成的启动电路、第一电流产生电路、第二电流产生电路、第三电流产生电路和叠加输出电路;所述CMOS晶体管电路包括十四只NMOS、十八只PMOS管、七只电阻和五只电容,具体连接关系如下:
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