[发明专利]一种快速测试切换装置及相应的TFT-LCD阵列基板

说明书

技术领域

本发明涉及薄膜晶体场效应管液晶显示器（Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，TFT-LCD）技术，特别涉及一种快速测试切换装置及相应的TFT-LCD阵列基板。

背景技术

TFT-LCD面板在生产过程中需要对内部线路进行检测，及时发现问题并修复，该过程称为面板测试过程（cell test）。目前比较广泛应用的面板测试方式是，在栅级焊接区（Gate bonding pad）和源极焊接区（Source bonding pad）下方引入测试短棒（shorting bar）的设计，在面板测试结束后，将该测试短棒的走线采用激光切割（laser cut）的方式切断，但是这种测试电路由于设计了测试短棒，费用高且在面板上需要占用较大的空间，没办法实现面板的窄边框设计，例如在一种 46寸的TFT-LCD中，其中，测试短棒及激光切割所需的走线所占的空间为630μm。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于，提供一种快速测试切换装置及相应的TFT-LCD阵列基板，有利于液晶面板的窄边化，且能避免液晶面板在正常使用时出现的信号干扰。

为了解决上述技术问题，本发明的实施例的一方面提供了一种TFT-LCD阵列基板，包括显示区和位于显示区外围的外围区域，显示区内设置有连接其内部的各TFT单元的栅线和数据线，，外围区域内设置有：

多条数据测试线，分别用于向显示区中各数据线发送数据测试信号；

多条栅线测试线，分别用于向显示区中各栅线发送栅线测试信号；

公共电极线，用于向显示区中各TFT单元提供公共电极；

其中，在每一数据测试线及每一栅线测试线上均设置有快速测试切换装置，快速测试切换装置用于在外部的切换控制信号的控制下，控制数据测试线及栅线测试线与显示区的导通或切断。

其中，进一步包括：控制芯片，其与快速测试切换装置相连，用于向快速测试切换装置发送一关闭控制信号，以使快速测试切换装置处于关闭状态。

其中，控制芯片述所发送的关闭控制信号为一低电平信号或地。

其中，快速测试切换装置包括：

第一切换TFT，其栅极连接控制芯片及一测试块，用于接收来自测试块切的切换控制信号，或来自控制芯片的关闭控制信号，其源极连接一数据测试线或栅极测试线，其漏极连接显示区的对应的数据线或栅线。

其中，快速测试切换装置包括：

第一切换TFT，其栅极连接控制芯片及一测试块，用于接收来自测试块的切换控制信号，或来自控制芯片的关闭控制信号，其源极连接一数据测试线或栅极测试线；

第二切换TFT，其栅极连接第一切换TFT的栅极，其源极连接第一切换TFT的漏极，其漏极连接显示区的对应的数据线或栅线。

其中，快速测试切换装置包括：

第一切换TFT，其栅极连接控制芯片及一测试块，用于接收来自测试块的切换控制信号，或来自控制芯片的关闭控制信号，其源极连接一数据测试线或栅极测试线；

第二切换TFT，其栅极连接第一切换TFT的栅极，其源极连接第一切换TFT的漏极，

第三切换TFT，其栅极连接第二切换TFT的栅极，其源极连接第一切换TFT的漏极，其漏极连接显示区的对应的数据线或栅线。

其中，当第一切换TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第一电平信号时，则各切换TFT的栅极和漏极导通，向显示区发送数据测试信号或/及栅极测试信号；当第一切换TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第二电平信号时，则各切换TFT的栅极和漏极截止，停止向显示区发送数据测试信号或/及栅极测试信号；当第一切换TFT接收到来自控制芯片的关闭控制信号，则各切换TFT的栅极和漏极截止。

相应地，本发明实施例的另一方面，还一种快速测试切换装置，设置于一TFT-LCD阵列基板上，用于切换对TFT-LCD阵列基板的显示区进行测试的信号，至少包括：

第一切换TFT，其栅极连接一控制芯片及一测试块，用于接收来自测试块的切换控制信号，或来自控制芯片的关闭控制信号，其源极连接一数据测试线或栅极测试线，其漏极连接显示区的对应的数据线或栅线。

其中，进一步包括：

设置于第一切换TFT与显示区之间的第二切换TFT，其栅极连接第一切换TFT的栅极，其源极连接第一切换TFT的漏极，其漏极连接显示区的对应的数据线或栅线。

其中，进一步包括：