[发明专利]测试装置及其控制方法和测试系统

权利要求书

1.一种测试装置，用于检测微流体装置的检测对象，所述测试装置包括：

旋转驱动单元，配置为旋转所述微流体装置；

光发射元件，配置为发射光到所述微流体装置上；

检测模块，设置在面对所述光发射元件的位置，并具有光接收元件，所述光接收元件配置为在所述微流体装置位于所述检测模块与所述光发射元件之间时接收从所述光发射元件发射并透射穿过所述微流体装置的光；

检测模块驱动单元，配置为相对于所述微流体装置在径向方向上移动所述检测模块；以及

控制器，配置为控制所述旋转驱动单元和所述检测模块驱动单元，使得所述微流体装置内的检测对象与所述光接收元件对准。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述光发射元件包括背光单元作为面光源，所述光接收元件包括电荷耦合器件（CCD）图像传感器或互补金属氧化物半导体（CMOS）图像传感器。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述控制器配置为控制所述检测模块驱动单元以相对于所述微流体装置在径向方向上移动所述检测模块，以及控制所述旋转驱动单元以旋转所述微流体装置，使得所述光接收元件位于与所述检测对象对准的位置。

4.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述检测模块包括温度传感器以测量所述检测对象的温度，所述温度传感器选自由红外温度传感器、热敏电阻、电阻温度检测器和热电偶组成的组。

5.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述检测模块驱动单元包括进给马达或步进马达。

6.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述微流体装置包括磁体，所述磁体设置在所述微流体装置的预定半径处并位于邻近所述检测对象的位置，

其中关于所述预定半径的信息被存储在所述控制器中。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其中所述检测模块包括磁铁，所述磁铁配置为施加吸引力到所述磁体，使得当所述检测对象与所述光接收元件对准时所述微流体装置停止旋转。

8.根据权利要求7所述的测试装置，其中所述控制器配置为控制所述检测模块驱动单元以相对于所述微流体装置在径向方向上移动所述检测模块，以及控制所述旋转驱动单元以旋转所述微流体装置，使得所述检测模块的所述磁铁位于与所述微流体装置的所述磁体对准的位置。

9.一种测试装置的控制方法，所述测试装置包括：旋转驱动单元，配置为旋转微流体装置；光发射元件，配置为发射光到所述微流体装置；检测模块，布置在面对所述光发射元件的位置而使得所述微流体装置位于所述检测模块与所述光发射元件之间，并提供有光接收元件，所述光接收元件配置为接收从所述光发射元件发射并透射穿过所述微流体装置的光；以及检测模块驱动单元，配置为相对于所述微流体装置在径向方向上移动所述检测模块，所述控制方法包括：

通过控制所述检测模块驱动单元，相对于所述微流体装置在径向方向上移动所述检测模块，使得所述光接收元件位于所述微流体装置的检测对象所在的半径处；

之后，通过控制所述旋转驱动单元，旋转所述微流体装置，使得所述检测对象位于与所述光接收元件对准的位置；以及

之后，通过控制所述光发射元件，发射光到所述检测对象上，使得所述光接收元件检测透射穿过所述检测对象的光。

10.根据权利要求9所述的方法，其中：

所述微流体装置包括磁体，所述磁体设置在所述微流体装置的预定半径处并且在邻近所述检测对象的位置，以及

所述检测模块包括磁铁，所述磁铁配置为施加吸引力到所述磁体，使得当所述检测对象与所述光接收元件对准时所述微流体装置停止旋转。

11.根据权利要求10所述的方法，其中所述移动包括：控制所述检测模块驱动单元以相对于所述微流体装置在径向方向上移动所述检测模块，使得所述检测模块的所述磁铁位于所述微流体装置的所述磁体所在的半径处。

12.根据权利要求10所述的方法，其中所述旋转包括：控制所述旋转驱动单元以旋转所述微流体装置，使得所述微流体装置的所述磁体位于与所述检测模块的所述磁铁对准的位置。