[发明专利]放射线照相成像设备和控制放射线检测敏感度的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种捕捉表达穿过被摄体的放射线的放射线照相图像的放射线照相成像设备以及控制对放射线照射开始的检测敏感度的方法。

背景技术

近来，实现了诸如平板检测器（FPD）的放射线检测器，其中，放射线敏感层被设置在薄膜晶体管（TFT）有源矩阵基板上，并且以此放射线可以被直接转换为数字数据。还实现了采用这样的放射线检测器捕捉表达被照射的放射线的放射线照相图像的放射线照相成像设备，诸如，电子暗盒。用于将放射线转换为由这样的放射线检测器使用的电信号的转换方法例如包括：间接转换方法，其中，首先通过闪烁体将放射线转换为光，并且然后通过光电二极管将转换后的光转换为电荷；或者直接转换方法，其中，通过包含例如非晶硒的半导体层，将放射线转换为电荷。存在可以在半导体层中使用的多种材料用于各种方法。

在配备有FPD的放射线照相成像设备中，必须在FPD和放射线源之间执行同步控制，以便使FPD累积信号电荷的累积操作的开始与来自放射线源的放射线的照射的照射定时匹配。为了使用于开始放射线照射的定时和用于开始通过FPD的信号电荷的累积操作的定时同步，诸如控制台的、控制放射线照相成像设备的控制器，接收由连接至放射线源的照射开关生成的照射开始信号，并且将该信号作为同步信号提供给放射线照相成像设备。放射线照相成像设备当接收到该同步信号时转移到累积操作并且开始成像。

然而，在构成包括放射线照相成像设备和放射线源的成像系统的情况下，有时在放射线照相成像设备或其控制台中作为标准（例如，电缆或连接器标准、同步信号格式）安装的同步控制接口与放射线源的接口不兼容。由于这样的问题，开发了放射线照相成像设备，其包括自动放射线检测功能，放射线照射开始由放射线照相成像设备本身自动地检测，而不使用同步信号。

例如，日本专利申请特开（JP-A）No.2011-185622公开了一种放射线照相成像设备，其设置有：多个放射线检测元件，在由多条扫描线和多条信号线划分的区域中的每个区域中以2D形式排列；电流检测装置，检测在用于将偏置电压施加给放射线检测元件的偏置线中流动的电流；控制装置，基于由电流检测装置检测的电流值来检测放射线照射开始；以及存储器，其在每个放射线探测元件的复位处理期间，预存储由电流检测装置检测的电流的改变曲线（change profile）。控制装置基于值△V检测放射线照射开始，值△V为在每个放射线检测元件的复位处理期间由电流检测装置检测的电流的值减去与改变曲线对应的电流值的值。

而且，JP-A No.2011-193306公开了一种技术，其中，在放射线照相成像设备中确定地不照射放射线的时间点，对于来自每个放射线检测元件7的每个图像数据d获取图像数据d（偏移量校正值O）和积分值Σd(n)或者求和值Σd(m)，或者对于多个帧的图像数据d获取积分值Σd(n)或求和值Σd(m)并且计算其平均值。然后，通过加上特定值而增加这些值，来设置每次执行放射线照相成像时用于检测放射线照射的阈值。

在诸如在JP-A No.2011-185622中公开的、具有自动放射线检测功能的放射线照相成像设备（以下称为电子暗盒）中，存在由于混合到放射线检测系统中的噪声导致的放射线照射开始的错误检测的问题。可能的噪声源例如是出现在电子暗盒内的暗电荷、从诸如磁共振成像（MRI）设备的外部设备发射的磁场和电磁波、以及例如通过其上安装电子暗盒的桌子的振动而外部导致的噪声。在这样的噪声中，不期望来自在电子暗盒内存在的噪声源诸如暗电荷的噪声生成状态波动很大。即，期望在电子暗盒内出现的噪声的振幅波动较小，导致噪声水平的较小变化。从而，可以通过向用于确定放射线照射开始的阈值提供固定裕量，来避免以上错误检测。

然而，可以预见到，来自电子暗盒外部的噪声源（例如，从外部设备发射的电磁波和振动）的、在电子暗盒的放射线检测系统中混合的噪声的水平，取决于诸如安装电子暗盒的位置和一日内时间的因素而极大波动。即，预计由外部因素导致的外部噪声的振幅波动较大，具有噪声水平的较大变化。从而，当电子暗盒被安装在受外部噪声源影响的噪声环境中时，可以预见到，即使将固定裕量提供给用于确定放射线照射开始的阈值，噪声将仍然出现在超过裕量的水平处。这样的情况导致放射线照射开始的错误检测。从而，存在当电子暗盒安装在受外部噪声源影响的噪声环境中时，由于噪声导致而频繁地错误检测放射线照射开始的问题，由此，不能在合适定时进行向累积操作的转移，并且不能适当地执行放射线照相成像。