[发明专利]一种光纤与光电子器件垂直耦合的方法无效
申请号: | 201310291215.9 | 申请日: | 2013-07-11 |
公开(公告)号: | CN103345028A | 公开(公告)日: | 2013-10-09 |
发明(设计)人: | 査国伟;牛智川;倪海桥;李密锋;喻颖;王莉娟;徐建星;尚向军;贺振宏 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | G02B6/42 | 分类号: | G02B6/42 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光纤 光电子 器件 垂直 耦合 方法 | ||
1.一种光纤与光电子器件垂直耦合的方法,其特征在于,该方法包括:
在光电子器件(4)表面预涂一层光刻胶(2);
利用光刻技术在光电子器件(4)表面形成对准孔(3)阵列;
在光纤(1)的端部剥去涂覆层露出光纤内芯;
在显微镜及位移平台的辅助下将光纤(1)端部露出的光纤内芯插入对准孔(3)内,并用胶体固定。
2.根据权利要求1所述的光纤与光电子器件垂直耦合的方法,其特征在于,所述光刻胶(2)选用标准为能够适应相应的厚胶工艺,在工艺上能够实现1∶1以上的高宽比,同时能够提供较好的机械支撑以适应对准孔的要求。
3.根据权利要求1或2所述的光纤与光电子器件垂直耦合的方法,其特征在于,所述光刻胶(2)为SU-8树脂胶,厚度为100-500微米。
4.根据权利要求1所述的光纤与光电子器件垂直耦合的方法,其特征在于,所述露出的光纤内芯的长度为1-3厘米。
5.根据权利要求1所述的光纤与光电子器件垂直耦合的方法,其特征在于,所述对准孔(3)的直径与剥去涂覆层的光纤内芯一致。
6.根据权利要求5所述的光纤与光电子器件垂直耦合的方法,其特征在于,对于标准光纤,所述对准孔(3)的直径为125μm;对于塑料光纤,所述对准孔(3)的直径为500μm-2mm。
7.根据权利要求1所述的光纤与光电子器件垂直耦合的方法,其特征在于,所述对准孔(3)的位置对准光电子器件(4)的出光口。
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