[发明专利]一种实现稳定测温的测温装置及其所在的半导体设备有效

专利信息
申请号: 201310299429.0 申请日: 2013-07-17
公开(公告)号: CN104296887B 公开(公告)日: 2017-04-05
发明(设计)人: 左涛涛;吴狄;倪图强 申请(专利权)人: 中微半导体设备(上海)有限公司
主分类号: G01K7/02 分类号: G01K7/02;H01L21/66
代理公司: 上海智信专利代理有限公司31002 代理人: 王洁
地址: 201201 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 实现 稳定 测温 装置 及其 所在 半导体设备
【权利要求书】:

1.一种实现稳定测温的测温装置,包括两根材料不同的热电极,以及所述热电极的结合端,其特征在于:所述热电极外环绕设置一绝缘管,所述绝缘管内设置固定装置,用以将两根热电极与所述绝缘管固定连接。

2.根据权利要求1所述的测温装置,其特征在于:所述的固定装置为设置在所述绝缘管内部的多管道部件,所述多管道部件包括至少两个独立管道,所述两根热电极分别位于一个独立管道内。

3.根据权利要求2所述的测温装置,其特征在于:所述两热电极的结合端包括一测量端和一自由端,所述多管道部件长度小于等于所述热电极长度。

4.根据权利要求1所述的测温装置,其特征在于:所述固定装置和所述绝缘管材料相同或不同,为特氟龙、聚醚酮、聚醚酰亚胺中的一种或两种。

5.根据权利要求1所述的测温装置,其特征在于:所述的固定装置包括至少两个与所述绝缘管固定连接的固定环,所述的固定环靠近所述测量端设置,所述两根热电极分别位于一个固定环内。

6.根据权利要求5所述的测温装置,其特征在于:所述的固定环为不连续结构,所述固定环通过抓力固定所述热电极。

7.根据权利要求5所述的测温装置,其特征在于:所述的固定环的内径大于等于所述热电极的外径。

8.一种实现准确测温的半导体设备,其特征在于:所述设备包括至少一个反应腔,所述反应腔内设置一静电吸盘,所述静电吸盘置于一基座上,所述基座和所述静电吸盘内部设置一测温装置,所述测温装置包括两根材料不同的热电极,以及所述热电极的两结合端,一测量端和一自由端,所述热电极外环绕设置一绝缘管,所述绝缘管内设置固定装置,用以将两根热电极与所述绝缘管固定连接。

9.根据权利要求8所述的半导体设备,其特征在于:所述的测量端靠近所述静电吸盘表面。

10.根据权利要求8所述的半导体设备,其特征在于:所述绝缘管下方设置一弹簧,所述弹簧通过一固定塞和所述基座固定。

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