[发明专利]一种抑制星冕仪系统散斑噪声的波前误差校正系统及方法有效
申请号: | 201310301653.9 | 申请日: | 2013-07-15 |
公开(公告)号: | CN103399401A | 公开(公告)日: | 2013-11-20 |
发明(设计)人: | 董冰;覃顺;胡新奇 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G02B26/06 | 分类号: | G02B26/06 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 付雷杰;仇蕾安 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 抑制 星冕仪 系统 噪声 误差 校正 方法 | ||
1.一种抑制星冕仪系统散斑噪声的波前误差校正系统,星冕仪系统(20)前方放置望远镜光瞳(10),星冕仪系统(20)后方放置该校正系统,其特征在于,该校正系统包括第一透镜(1)、第一变形镜(2)、第二变形镜(3)、分束镜(4)、第二透镜(8)、像面探测器(9)、第三透镜(5)、第四透镜(6)、振幅探测器(7)以及处理器,其中:
所述第一透镜(1)置于星冕仪系统(20)的后焦面的后方光路中,第一变形镜(2)置于第一透镜(1)的透射光路中,第一透镜(1)用于将从星冕仪系统(20)出射的光线平行投射到所述第一变形镜(2)的反射面上;第二变形镜(3)位于第一变形镜(2)的后方光路中,并且第二变形镜(3)与望远镜的光瞳共轭;第一变形镜(2)对透射光线进行菲涅尔衍射后供第二变形镜(3)进行接收;所述分束镜(4)位于所述第二变形镜(3)的反射光路中,所述第三透镜(5)、第四透镜(6)和振幅探测器(7)依次排列在分束镜(4)的反射光路中,其中第三透镜(5)和第四透镜(6)的组合对从分束镜(4)反射的光束大小进行调整后投射到振幅探测器(7)的接收面上,振幅探测器(7)与第二变形镜(3)共轭,用于探测第二变形镜(3)上的光强分布;所述第二透镜(8)和像面探测器(9)依次位于分束镜(4)的透射光路中,其中第二透镜(8)将从分束镜(4)透射的光线成像在所述像面探测器(9)的接收面上;
所述处理器分别与第一变形镜(2)、第二变形镜(3)、振幅探测器(7)和像面探测器(9)相连:所述处理器根据从振幅探测器(7)接收的光强信息向第一变形镜(2)内的致动器输出控制电压信号,从而驱动第一变形镜(2)对波前振幅误差进行校正;所述处理器根据从像面探测器(9)接收的光强信息向第二变形镜(3)的致动器输出控制电压信号,从而驱动第二变形镜(3)对波前相位误差进行校正,从而使得振幅探测器(7)接收到的光强分布符合其所在的星冕仪系统(20)理想情况下的光强分布,最终在像面探测器(9)的暗洞区域内实现对星冕仪系统(20)散斑噪声的抑制。
2.一种基于权利要求1所述抑制星冕仪系统散斑噪声的波前误差校正系统的校正方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤一、设定评价函数J为第一变形镜(2)和第二变形镜(3)中各个致动器控制矢量u=(u1,u2,...uj,...,uN)的函数,其中uj为第一变形镜(2)或第二变形镜(3)中第j个致动器的控制电压,j∈(1,N),N为致动器个数;
步骤二、校正系统进行初始化,处理器将第一变形镜(2)和第二变形镜(3)中各个致动器的控制电压设置为最大允许控制电压的中值u0;
步骤三、采用随机并行梯度下降法控制第一变形镜(2)的致动器校正波前振幅误差,具体步骤如下:
S300、选择评价函数:
如果星冕仪的理想瞳面光强分布为均匀分布,则采用振幅探测器(7)接收的实际瞳面光强分布I的起伏方差作为评价函数J,即有:J=<I2>-<I>2;
如果星冕仪包含透过率渐变的光瞳切趾函数,则采用理论瞳面光强分布I′和振幅探测器(7)接收的实际瞳面光强分布I之差的均方值作为评价函数:J=<I′-I>2;
S301、初始化后,处理器接收振幅探测器(7)采集到的一帧图像,并根据S300中选择的评价函数公式计算该图像的评价函数J00;
S302、令k表示迭代次数,则第k次的控制电压信号为uk,首先设置k=0;
S303、处理器对第一变形镜(2)中N个致动器产生服从伯努利分布的控制电压的扰动信号δuk;
S304、将控制电压的扰动信号δuk与致动器最大允许控制电压的中值u0相加,得到初次的控制电压信号uk=δuk+u0;
S305、处理器将控制电压信号uk作用在对应的第一变形镜(2)的致动器上,然后处理器接收施加该控制电压信号uk后所述振幅探测器(7)采集的一帧图像;
S306、计算S305采集的图像的评价函数Jk,进而计算评价函数的扰动值δJk=Jk-J00;
S307、计算下一次的控制电压信号:uk+1=uk-μδJkδuk,其中μ为增益系数;
S308、处理器将控制电压信号uk+1施加到第一变形镜(2)对应的致动器上,然后计算施加本次控制电压信号后,振幅探测器(7)得到的评价函数值Jk+1,并判断该评价函数值Jk+1与上一次迭代后的评价函数Jk的差的绝对值是否小于预定的阈值,如果是,则停止迭代,控制第一变形镜(2)进行波前振幅误差校正的过程结束,执行步骤四;如果否,更新迭代次数:k=k+1,并执行S307-S308,继续下次迭代;
步骤四、基于像面探测器(9)的光强信息控制第二变形镜(3)进行波前相位校正:
S400、评价函数采用像面探测器(9)的暗洞区内的光强I暗洞之和与像面中最大光强I最大之比,即:J=(ΣI暗洞)I最大;
S401、初始化后,处理器接收像面探测器(9)采集到的一帧图像,并根据S400中评价函数公式计算该图像的评价函数J0′;
S402、令l表示迭代次数,则第l次的控制电压信号为ul,首先设置l=0;
S403、处理器对第二变形镜(3)中N个致动器产生服从伯努利分布的控制电压的扰动信号δul;
S404、将控制电压的扰动信号δul与致动器最大允许控制电压的中值u0相加,得到初次的控制电压信号ul=δul+u0;
S405、处理器将相加得到的控制电压信号ul作用在对应的第二变形镜(3)的致动器上,然后处理器接收施加该控制电压信号ul后像面探测器(9)采集的一帧图像;
S406、计算S405采集的图像的评价函数Jl,进而计算评价函数的扰动值δJl=Jl-J0′;
S407、计算下一次的控制电压信号:ul+1=ul-μ′δJlδul,其中μ′为增益系数;
S408、处理器将控制电压信号ul+1施加到第二变形镜(3)对应的致动器上,然后计算施加本次控制电压信号后,像面探测器(9)得到的评价函数值Jl+1,并判断该评价函数值Jl+1与上一次迭代后的评价函数Jl的差的绝对值是否小于预定的阈值,如果是,则停止迭代,控制第二变形镜(3)进行波前相位误差校正的过程结束;如果否,更新迭代次数:即l=l+1,并执行S407-S408,继续下次迭代。
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