[发明专利]一种在离子阱质量分析器中进行的串级质谱分析方法有效
申请号: | 201310303472.X | 申请日: | 2013-07-18 |
公开(公告)号: | CN103413751A | 公开(公告)日: | 2013-11-27 |
发明(设计)人: | 徐福兴;王亮;丁传凡 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | H01J49/42 | 分类号: | H01J49/42;H01J49/02;G01N27/62 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;盛志范 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 离子 质量 分析器 进行 串级质 谱分析 方法 | ||
1.一种在离子阱质量分析器中进行的串级质谱分析方法,其特征在于:依次分为离子选择隔离、碰撞诱导解离和质量扫描分析三个阶段;其中:
在所述离子选择隔离阶段,被选择的母离子被隔离,被隔离的母离子在离子阱工作电压产生的电场作用下,通过与中性气体分子的碰撞冷却被束缚在离子阱中;
在所述碰撞诱导解离阶段,改变加载在离子阱电极上的离子激发射频电压信号周期的大小,从而改变了离子共振激发射频电压的周期,使得具有一定质荷比的离子被具有某一周期或频率的离子激发射频电压共振激发而获得较高的能量;被共振激发的离子与离子阱中的中性分子发生碰撞并发生解离产生碎片离子,碎片离子在离子阱中经过冷却后被束缚,以进行后续的质量分析;
在所述质量扫描分析阶段,离子阱中的离子在离子阱电极上加载的偶极激发电压的作用下,发生共振激发,最终从离子引出电极的引出孔或引出槽中被逐出,并被设置在离子阱外的离子探测器检测而获得离子的质谱信号。
2.根据权利要求1所述的串级质谱分析方法,其特征在于:在所述碰撞诱导解离阶段,保持数字束缚射频电压的电压幅度和占空比不变,选定数字束缚射频电压的周期值,且初始周期与终止周期值不变;再选定某个分频数n,即选定离子激发射频电压与数字束缚射频电压两者之间频率关系 值,n=/2;由于值的关系,离子共振激发射频电压的周期值也随着改变且占空比不变,随着离子共振激发射频电压的变化,离子之间实现共振运动产生碰撞能量。
3.根据权利要求1所述的串级质谱分析方法,其特征在于:在所述质量扫描分析阶段对离子质荷比进行线性扫描。
4.根据权利要求1所述的串级质谱分析方法,其特征在于:在所述碰撞诱导解离阶段,所施加的离子激发射频电压信号波形是数字方波或者正弦波。
5.根据权利要求2所述的串级质谱分析方法,其特征在于:在所述碰撞诱导解离阶段中,增加通入离子阱内的中性冷却气体。
6.根据权利要求2所述的串级质谱分析方法,其特征在于:所述碰撞诱导解离阶段,数字束缚射频电压的频率和幅度为定值。
7.根据权利要求2所述的串级质谱分析方法,其特征在于:在所述碰撞诱导解离阶段,离子激发射频电压与数字子束缚射频电压频率比值为任意值。
8.根据权利要求1所述的串级质谱分析方法,其特征在于:所述离子阱为三维离子阱,或者二维线形离子阱。
9.根据权利要求1所述的串级质谱分析方法,其特征在于:所述离子阱为离子阱阵列,或者为场调节离子阱。
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