[发明专利]一种铁电薄膜成核可逆电畴极化强度的测量方法在审
申请号: | 201310304913.8 | 申请日: | 2013-07-19 |
公开(公告)号: | CN103412210A | 公开(公告)日: | 2013-11-27 |
发明(设计)人: | 江安全;陈志辉 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;盛志范 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 薄膜 成核 可逆 极化 强度 测量方法 | ||
1. 一种铁电薄膜成核可逆电畴极化强度的测量方法,其特征在于采用电脉冲测量法,分为预极化铁电薄膜电畴极化方向与外加电压处于反平行及平行方向两种情况,分别通过施加不同脉冲宽度的电压后,相应测量不同铁电电容器电压下铁电电容器放电电荷面密度及铁电薄膜反转电畴极化强度,进而计算铁电薄膜成核可逆电畴极化强度;具体测量步骤如下:
(1)、预极化铁电薄膜电畴极化方向至外加电压V的反平行方向;在外加脉冲宽度 电压V和总串联电阻作用下,通过示波器测量两端的电压随时间的变化,得到在脉冲宽度范围内,铁电电容器充电电流为,其等于电畴极化反转电流;在脉冲宽度之后,铁电电容器放电电流为;铁电电容器在脉冲宽度结束时的电压为:
(1)
其中,为时刻铁电薄膜电容器上电压,V为外加电压,为电路中总串联电阻,为时刻的铁电电容器充电电流;
(2)、根据步骤(1)测量数据,按电容器充电存储电荷等于充电电流对时间积分公式:
(2)
计算得时刻铁电电容器充电存储电荷面密度,其中,S为铁电平行板电容器的电极面积;
(3)、根据步骤(1)测量数据,按电容器放电电荷等于放电电流对时间积分公式:
(3)
计算得预极化铁电薄膜电畴极化方向与外加电压反平行时,在铁电电容器电压下铁电电容器放电电荷面密度,其中,为铁电电容器放电结束时间;
(4)、根据步骤(2)-(3),按铁电薄膜反转电畴极化强度等于预极化铁电薄膜电畴极化方向与外加电压反平行时铁电电容器充放电电流密度对时间积分公式:
(4)
计算得在铁电电容器电压下,铁电薄膜反转电畴极化强度;
(5)、在外加电压V作用下,脉冲宽度以步长Δt从0秒增大到铁电电容器完全充电时间,重复步骤(1)-(4),得到预极化铁电薄膜电畴极化方向与外加电压反平行时,在不同铁电电容器电压下铁电电容器放电电荷面密度及铁电薄膜反转电畴极化强度;
(6)、预极化铁电薄膜电畴极化方向至外加电压V的平行方向,重复步骤(1)和(3),得预极化铁电薄膜电畴极化方向与外加电压V平行时,在铁电电容器电压下铁电电容器放电电荷面密度;
(7)、在外加电压V作用下,脉冲宽度以步长Δt从0秒增大到铁电电容器完全充电时间,重复步骤(6),得到预极化铁电薄膜电畴极化方向与外加电压V平行时,在不同铁电电容器电压下铁电电容器放电电荷面密度;
(8)、采用电脉冲电滞回线测量法,得到铁电薄膜剩余极化强度,结合步骤(5)所得不同铁电电容器电压下铁电薄膜反转电畴极化强度,由公式:
(5)
计算得在不同铁电电容器电压下,铁电薄膜电畴反转区域的百分比率,及进一步得到铁电薄膜电畴未反转区域的百分比率为;
(9)、根据步骤(5)、(7)和(8),由公式:
(6)
计算得在不同铁电电容器电压下,铁电薄膜成核可逆电畴极化强度,其中,铁电薄膜成核可逆电畴极化强度,为铁电薄膜电畴未反转区域的放电电荷面密度,为电畴反转区域的放电电荷面密度,为铁电薄膜印刻电压。
2. 根据权利要求1所述的测量方法,其特征在于所述的外加脉冲电压大小在0.01V-100V范围间。
3. 根据权利要求1所述的测量方法,其特征在于所述的外加脉冲电压的脉冲宽度大小在0秒-1小时范围间。
4. 根据权利要求1所述的测量方法,其特征在于所述的总串联电路中电阻大小在100Ω-100MΩ范围内。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于复旦大学,未经复旦大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310304913.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。