[发明专利]一种工作在软X射线波段的并联平场光栅及其设计方法有效

专利信息
申请号: 201310307159.3 申请日: 2013-07-20
公开(公告)号: CN103454706A 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 刘正坤;王庆博;陈火耀;邱克强;付绍军 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: G02B5/18 分类号: G02B5/18;G02B27/44;G01J3/18;G01J3/28
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 杨学明;李新华
地址: 230026 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 工作 射线 波段 并联 光栅 及其 设计 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及平场光栅的技术领域,特别涉及一种工作在软X射线波段的并联平场光栅及其设计方法。

背景技术

现有技术1(参见文献Toshiaki Kita,Tatsuo Harada,N.Nakano,H.Kuroda.”Mechanically ruled aberration-corrected concave gratings for a flat-field grazing-incidence spectrograph”.Applied Optics,Vol.22,512-513,1983)采用一块球面变栅距光栅实现了5nm~20nm的平场谱面。该光栅的球面基底半径为5649mm,光栅中心处线密度为1200线/mm,工作时光源距光栅中心237mm,入射角度为87°,平直光谱面距离光栅中心为235mm。该光栅的特点是:只有一块光栅就可形成平直谱面,结构简单;但其工作的波段受到限制,只能将5nm~20nm波段的光成像在平面探测器上,超过该范围聚焦位置就会迅速的偏离探测面。

现有技术2(参见文献R.J.Fonck,A.T.Ramsey,and R.V.Yelle.”Multichannel grazing-incidence spectrometer for plasma impurity diagnosis:SPRED”.Applied Optics,Vol.21,2115-2123,1982)中两块平场光栅分别工作在10nm~110nm和16nm~170nm波段,两块光栅采用旋转的装置进行切换。现有技术3(参见文献孔鹏、巴音贺希格、李文昊、唐玉国、崔锦江“双光栅平场全息凹面光栅光谱仪的优化设计”光学学报,Vol.31,2011)将使用波段一分为二,提出了一种将两块使用结构完全相同的平场全息凹面光栅进行优化,光栅1工作在200~400nm,光栅2工作在400~800nm,通过理论计算,光栅2的有效光栅常数是光栅1的2倍。两块光栅也是通过切换装置来进行切换。技术2和技术3都展宽了工作波段,但两块光栅是通过切换装置进行切换,不能同时工作。

现有技术4(参见文献Ming-Hui Liu,Su-Xing Pan et al”Path-folded infrared spectrometer consisting of10sub-gratings and a two-dimensional InGaAs detector”.Optics Express,Vol.17,14956-14966,2009)提出了一种将10块子光栅通过夹具拼成一个整体光栅,该光栅工作波段在1450~1650nm,其中每块子光栅的波段跨度为20nm,其特点是:光栅工作在红外波段,每块子光栅为平面光栅且通过夹具拼接成为一个整体光栅,光栅不是平场光栅。

现有技术5(参见文献Ying Liu,Xin Tan,Zhengkun Liu,Xiangdong Xu,Yilin Hong,and Shaojun Fu“Soft X-ray holographic grating beam splitter including a double frequency grating for interferometer pre-alignment”.Optics Express,Vol.16,14761-14770,2008)提出了一种将两块子光栅做在同一块基底上的方案,其中两块子光栅栅线平行,一块光栅用来对准,另一块光栅实现分束。

目前软X射线的平场光栅只能在特定的波段呈现平直的谱面,我们通过将两块平场子光栅制作在同一基底上,形成并联平场光栅。两块光栅的工作结构相同,不需要任何切换机构,可以同时工作,从而实现波段的扩展,同时,这种结构对于研究高次谐波也大有帮助。

发明内容

本发明的目的是为了扩展软X射线平场光栅的工作波段,提供一种工作在软X射线波段的并联平场光栅及其设计方法,该光栅可以应用于等离子体诊断、X射线激光和高次谐波等研究领域。软X射线并联平场光栅是将两种不同线密度分布的光栅做在同一基底上,其工作在掠入射条件下,具有平直的光谱聚焦面。我们通过分析光谱面处的光谱信息,可以得到等离子体的时间和空间等信息。

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