[发明专利]一种准光相位修正面设计方法

权利要求书

1.一种准光相位修正面设计方法，包括对准光相位修正面的X向微扰                                                的设计方法，其特征在于，所述微扰

 ，其中为反向高斯波束电场Y向分量在相位修正面处的相位，为前向波束电场Y向分量在相位修正面处的相位；为波数，α为前向波束入射角；

如权利要求1所述一种准光相位修正面设计方法，其特征在于，=，其中对反向波束U的选取采用矢量分解方法，将U视为三维直角坐标系内的矢量，对U的取值只取U在Y向的分量。

2.如权利要求2所述一种准光相位修正面设计方法，其特征在于，对的求取过程为：

反向高斯波束在相位修正面处的电场

U为高斯波束，为真空磁导率，为真空介电常数，为微波角频率；

=，其中imag,real分别表示对括号内的复数取虚部和实部。

3.如权利要求2所一种述准光相位修正面设计方法，其特征在于，对的求取过程为：

计算前向波在相位修正面处的电场

其中前向波在相位修正面处的磁场

其中G为格林函数，，S1为圆柱镜面的面积，为圆柱镜面入射磁场，为波数，R为从圆柱镜面到相位修正面的距离，为圆柱镜面法线矢量；

对矢量取Y向分量，得到；

=；

所述圆柱镜面为微波前进路径上在相位修正面之前的圆柱形反射镜面。