[发明专利]激光供能微型GaAs电池的制造方法有效
申请号: | 201310308181.X | 申请日: | 2013-07-22 |
公开(公告)号: | CN104332525A | 公开(公告)日: | 2015-02-04 |
发明(设计)人: | 梁存宝;杜永超;肖志斌 | 申请(专利权)人: | 天津恒电空间电源有限公司;中国电子科技集团公司第十八研究所 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 天津市鼎和专利商标代理有限公司 12101 | 代理人: | 李凤 |
地址: | 300384 天津市滨海*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激光 微型 gaas 电池 制造 方法 | ||
1.激光供能微型GaAs电池的制造方法,包括制备GaAs衬底,其特征在于:在衬底上反结生长外延层后制作子电池;在每个子电池上制作下电极和上电极,用互联电极将相邻子电池的上电极和下电极焊接,形成串联的电池整体,对电池整体表面蒸镀减反射膜、划片,即制成本发明激光供能微型GaAs电池。
2.根据权利要求1所述的激光供能微型GaAs电池的制造方法,其特征在于:所述衬底为厚度300μm、径向偏离2°的半绝缘GaAs材料。
3.根据权利要求1或2所述的激光供能微型GaAs电池的制造方法,其特征在于:所述反结生长外延层的过程包括:采用气相外延生长方法,在GaAs衬底上面自下至上依次生长p-GaAs反结层、i-GaAs非掺杂层、n-GaAs缓冲层、n-GaAs窗口层、n-GaAs基区层、p-GaAs发射层3、p-GaAs窗口层和p-GaAs重掺层,形成P-N-N-P反结外延结构;所述子电池的制作过程包括:⑴在p-GaAs重掺层上光刻出隔离槽图形;⑵在隔离槽图形内依次腐蚀掉p-GaAs重掺层、去掉p-GaAs窗口层、p-GaAs发射层、n-GaAs基区层、n-GaAs窗口层、n-GaAs缓冲层、i-GaAs非掺杂层和p-GaAs反结层,直至露出GaAs衬底作为隔离槽底部,被腐蚀掉的部分为隔离槽,未被腐蚀的部分作为子电池。
4.根据权利要求3所述的激光供能微型GaAs电池的制造方法,其特征在于:所述子电池下电极的制作过程包括:在p-GaAs重掺层上光刻出下电极区域图形,在下电极区域图形内依次腐蚀掉p-GaAs重掺层、去掉p-GaAs窗口层、p-GaAs发射层、n-GaAs基区层和n-GaAs窗口层至露出n-GaAs缓冲层作为蒸镀下电极的下电极区域;在下电极区域自下至上依次蒸镀下电极金下层、下电极锗层、下电极银层和下电极金上层,完成每一个子电池下电极的制作过程。
5.根据权利要求3所述的激光供能微型GaAs电池的制造方法,其特征在于:所述子电池上电极的制作过程包括:在每一个子电池的p-GaAs重掺层上面光刻出上电极图形,按照上电极图形在p-GaAs重掺层上面自下至上依次蒸镀上电极金下层、上电极银层和上电极金上层,完成每一个子电池上电极10的制作过程。
6.根据权利要求1所述的激光供能微型GaAs电池的制造方法,其特征在于:所述互联电极为金丝。
7.根据权利要求1所述的激光供能微型GaAs电池的制造方法,其特征在于:所述减反射膜由三氧化二钛测层和一氧化硅层构成。
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的