[发明专利]X光探测器的探测器模块的中心位置确定方法及系统

权利要求书

1.一种X光探测器的探测器模块的中心位置确定方法，所述X光探测器包括沿第一方向平行排列的至少两个探测器模块，每个探测器模块由沿第二方向平行排列的2N个的探测器子模块组成，所述第二方向与Z向一致，其中，N为大于或等于1的整数；所述X光探测器用于接收经一准直器的约束孔隙约束的X射线，所述准直器约束孔隙在Z向具有一初始位置；该方法包括：

在三个或四个扫描位置处分别进行扫描，对任一设定的目标探测器模块，根据各扫描位置对应的扫描数据值及各扫描位置相对于所述目标探测器模块的中心位置的Z向坐标值，构造所述目标探测器模块的最后一个探测器子模块所对应的第一直线的表达式，以及所述目标探测器模块的第一个探测器子模块所对应的第二直线的表达式；所述第一直线为所述目标探测器模块的最后一个探测器子模块的Z坐标和扫描数据值的关系曲线的切线，所述第二直线为所述目标探测器模块的第一个探测器子模块的Z坐标和扫描数据值的关系曲线的切线；

根据所述第一直线的表达式和所述第二直线的表达式，计算出所述目标探测器模块的中心位置与所述初始位置之间的间距，根据所述目标探测器模块的中心位置与所述初始位置之间的间距确定出所述目标探测器模块的中心位置。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在三个扫描位置处分别进行扫描为：沿Z向分别移动准直器约束孔隙至第一扫描位置、第二扫描位置和第三扫描位置，并对应每个扫描位置分别进行扫描，记录所述第一扫描位置、第二扫描位置和第三扫描位置相对于所述初始位置的距离值；其中，第一扫描位置和第二扫描位置位于偏向探测器模块的第一个探测器子模块的位置，第三扫描位置位于偏向探测器模块的最后一个探测器子模块的位置；

所述对任一设定的目标探测器模块，根据各扫描位置对应的扫描数据值及各扫描位置相对于所述目标探测器模块的中心位置的Z向坐标值，构造所述目标探测器模块的最后一个探测器子模块所对应的第一直线的表达式以及所述目标探测器模块的第一个探测器子模块所对应的第二直线的表达式包括：

对任一设定的目标探测器模块，提取所述第一扫描位置和第二扫描位置下所述目标探测器模块的最后一个探测器子模块的扫描数据值，并提取所述第三扫描位置下所述目标探测器模块的第一个探测器子模块的扫描数据值；

确定所述第一扫描位置、第二扫描位置和第三扫描位置相对于所述目标探测器模块的中心位置的Z向坐标值；

根据所述第一扫描位置和第二扫描位置下所述目标探测器模块的最后一个探测器子模块的扫描数据值和相应的Z向坐标值，确定出对应所述最后一个探测器子模块的第一直线的斜率，根据对应所述第一个探测器子模块的第二直线与所述第一直线的斜率之间的近似对称关系，得到所述第二直线的推导斜率；

根据所述第一直线的斜率和第一扫描位置或第二扫描位置下所述目标探测器模块的最后一个探测器子模块的扫描数据值和相应的Z向坐标值，构造所述第一直线的表达式；根据所述第二直线的推导斜率和第三扫描位置下所述目标探测器模块的第一个探测器子模块的扫描数据值和相应的Z向坐标值，构造所述第二直线的表达式。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，该方法进一步包括：沿Z向移动准直器约束孔隙至第四扫描位置并进行扫描，记录所述第四扫描位置相对于所述初始位置的距离值；其中，第四扫描位置位于偏向探测器模块的最后一个探测器子模块的位置；

对所述目标探测器模块，提取所述第四扫描位置下所述目标探测器模块的第一个探测器子模块的扫描数据值；

根据所述间距参数，确定所述第四扫描位置相对于所述目标探测器模块的中心位置的Z向坐标值；

根据所述第三扫描位置和第四扫描位置下所述目标探测器模块的第一个探测器子模块的扫描数据值和相应的Z向坐标值，确定出对应所述第一个探测器子模块的第二直线的验证斜率；

利用所述验证斜率对所述推导斜率进行验证，若二者近似一致，则执行构造所述第一直线的表达式和第二直线的表达式的步骤；否则，重新确定第一扫描位置、第二扫描位置、第三扫描位置和第四扫描位置中的至少一个，并返回执行沿Z向移动准直器约束孔隙至各扫描位置并进行扫描的步骤。