[发明专利]一种固体继电器的老化和早期失效的检测方法及检测装置

说明书

技术领域

本发明属于固体继电器及固体延时继电器的检测技术领域，具体涉及一种固体继电器的老化和早期失效的检测方法及检测装置。

背景技术

固体及固体延时继电器(Solid State Relays,缩写SSR)是一种无触点电子开关，由分立元器件、膜固定电阻网络和芯片，采用混合工艺组装来实现控制回路(输入电路)与负载回路(输出电路)的电隔离及信号耦合，由固体器件实现负载的通断切换功能，内部无任何可动部件，达到无触点、无火花、而能接通和断开电路的目的，被广泛运用在通讯、遥控、遥测、机电一体化及其电力电子设备中，固体继电器或固体延时继电器由输入(控制)电路，隔离(耦合)和输出(负载)电路三部分组成。

固体继电器或固体延时继电器的输入电路是为输入控制信号提供一个回路，使之成为固体继电器或固体延时继电器的触发信号源。

固体继电器或固体延时继电器的驱动电路可以包括隔离耦合电路、功能电路和触发电路三部分。隔离耦合电路，目前多采用光电耦合器和高频变压器两种电路形式。常用的光电耦合器有光－三极管、光－双向可控硅、光－二极管阵列(光－伏)等。高频变压器耦合，是在一定的输入电压下，形成约10MHz的自激振荡，通过变压器磁芯将高频信号传递到变压器次级。功能电路可包括检波整流、过零、加速、保护、显示等各种功能电路。触发电路的作用是给输出器件提供触发信号。

固体继电器或固体延时继电器的输出电路是在触发信号的控制下，实现固体继电器或固体延时继电器的通断切换。输出电路主要由输出器件(芯片)和起瞬态抑制作用的吸收回路组成，有时还包括反馈电路。

为了保证固体继电器或固体延时继电器的使用性能(效果)，通常需要对固体继电器或固体延时继电器进行一些参数检测，比如动合时间、动断时间、动合触点压降、动断触点压降、动合断故障压降、动合粘故障压降、动断断故障压降、动断粘故障压降等。固体继电器或固体延时继电器在使用过程中，输入端施加激励信号，通过隔离(耦合)电路，驱动输出(负载)电路导通或者切断，此时，控制信号输入，但由于隔离(耦合)电路或输出(负载)电路出现故障，导致输出(负载)电路并未导通或者切断，或控制信号输入后，隔离(耦合)电路工作，输出(负载)电路也导通或者切断，但导通后触点上的压降很大或者切断后触点上的压降很小，这都会大大削弱固体继电器或固体延时继电器的带载能力。因此，对固体继电器或固体延时继电器老化的同时进行早期失效检测有利于提高工作效率和产品合格率。

由于固体继电器或固体延时继电器的输入(控制)电路、隔离(耦合)、输出(负载)电路一般都是密封在金属外壳里，内部个分立元器件有无虚焊均无法直接观察。目前主要采取一下两种方法：一是固体继电器或固体延时继电器的输入端加电源，在固体继电器或固体延时继电器的输出加负载电源，用电压表对触点上的压降进行测量，如果测量压降在规定的范围内，就判定该固体继电器或固体延时继电器合格，这种方法不仅麻烦、浪费时间、浪费人力，还不能保准老化后的固体继电器或固体延时继电器参数仍然合格；二是用专用的固体继电器或固体延时继电器测试仪表进行参数测量，然后对其进行老化，虽然相对第一种方法提高的测试速度，但老化后也不能保证老化过的固体继电器或固体延时继电器仍然合格。

发明内容

为了克服上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供了一种固体继电器的老化和早期失效的检测方法及检测装置，本装置可测试动作延时、释放延时、间隔延时、重复循环延时、规定时序延时Ⅰ、规定时序延时Ⅱ、规定时序延时Ⅲ、无延时（固体）， 共八种固体继电器，可同时老化100只动合型或动断型固体及固体延时继电器，并实时检测100只动合型或动断型继电器在固定负载下的触点压降和开路电压、时间以及固体延时继电器的延时时间，其定时循环时间为0.01～99999999.99秒，分辨率可达到0.01；定时循环时间精度为±0.5%～30%，分辨率为0.1%；故障检测时间为0.1毫秒、0.5毫秒两档；工作频率可达到：0.02次/分钟～600次/分钟，每档0.01次/分钟；试验循环（施加激励）次数1～99999999次；允许最大故障次数1～100次；连续通电静态老化定时时间30分钟～1000小时；单次试验再循环时间0～1.5秒，分辨率为0.1秒；其整体技术水平处国内领先，该装置具有检测方法简单，检测快速，精确，易操作和又可实现自动老化检测的特点。

为了实现上述目的，本发明采用的技术方案是：一种固体继电器的老化和早期失效的检测方法，包括以下步骤：