[发明专利]用于光线跟踪的方法和设备

权利要求书

1.一种光线处理方法，包括：

基于多个遍历单元中的每个遍历单元的状态从所述多个遍历单元中选择遍历单元对输入光线的遍历进行处理；

使用选择的遍历单元对输入光线的遍历进行处理，

其中，所述多个遍历单元中的每个遍历单元的寿命基于由所述多个遍历单元中的每个遍历单元处理的一条或多条光线中的每条光线的状态被确定。

2.如权利要求1所述的方法，其中，基于所述多个遍历单元中的每个遍历单元的寿命从所述多个遍历单元中选择遍历单元。

3.如权利要求2所述的方法，其中：

基于由所述多个遍历单元中的每个遍历单元处理的一条或多条光线中的每条光线的寿命确定所述多个遍历单元中的每个遍历单元的寿命，

基于所述多个遍历单元对所述一条或多条光线中的每条光线的遍历进行反复处理的次数确定所述一条或多条光线中的每条光线的寿命。

4.如权利要求2所述的方法，其中，所述多个遍历单元中的每个遍历单元的寿命是由所述多个遍历单元中的每个遍历单元处理的所述一条或多条光线的寿命的和。

5.如权利要求2所述的方法，其中，所述多个遍历单元中的每个遍历单元的寿命是由所述多个遍历单元中的每个遍历单元处理的一条或多条光线的平均寿命。

6.如权利要求1所述的方法，其中，选择的遍历单元是所述多个遍历单元中的在输入缓冲器内具有最少数量的光线的遍历单元中的具有最长寿命的遍历单元。

7.如权利要求1所述的方法，其中：

反复执行所述对遍历的处理，

当每执行所述对遍历的处理一次时，输入光线的寿命增加“预定值”。

8.如权利要求1所述的方法，还包括：

从多个相交测试单元中选择相交测试单元对输入光线的相交测试进行处理；

使用选择的相交测试单元对输入光线的相交测试进行处理。

9.一种光线跟踪设备，包括：

多个遍历单元，对光线的遍历进行处理；

光线分派单元，基于所述多个遍历单元中的每个遍历单元的状态从所述多个遍历单元中选择遍历单元对输入光线的遍历进行处理；

其中，选择的遍历单元对输入光线的遍历进行处理，基于由所述多个遍历单元中的每个遍历单元处理的一条或多条光线中的每条光线的状态来确定所述多个遍历单元中的每个遍历单元的状态。

10.如权利要求9所述的光线跟踪设备，其中，光线分派单元基于所述多个遍历单元中的每个遍历单元的寿命从所述多个遍历单元中选择遍历单元。

11.如权利要求10所述的光线跟踪设备，其中：

基于由所述多个遍历单元中的每个遍历单元处理的一条或多条光线中的每条光线的寿命来确定所述多个遍历单元中的每个遍历单元的寿命，

基于由所述多个遍历单元对所述一条或多条光线中的每条光线的遍历进行反复处理的次数来确定所述一条或多条光线中的每条光线的寿命。

12.如权利要求10所述的光线跟踪设备，其中，所述多个遍历单元中的每个遍历单元的寿命是由所述多个遍历单元中的每个遍历单元处理的所述一条或多条光线的寿命的和。

13.如权利要求10所述的光线跟踪设备，其中，所述多个遍历单元中的每个遍历单元的寿命是由所述多个遍历单元中的每个遍历单元处理的一条或多条光线的平均寿命。

14.如权利要求9所述的光线跟踪设备，其中，光线分派单元从所述多个遍历单元中的在输入缓冲器内具有最少数量的光线的遍历单元中选择具有最长寿命的遍历单元，作为将对输入光线的遍历进行处理的遍历单元。

15.如权利要求9所述的光线跟踪设备，其中：

所述多个遍历单元反复对输入光线的遍历进行处理，

当每对输入光线的遍历进行处理一次时，输入光线的寿命增加“预定值”。

16.如权利要求9所述的光线跟踪设备，还包括：

多个相交测试单元，对光线的相交测试进行处理；

光线仲裁单元，从所述多个相交测试单元中选择相交测试单元对输入光线的相交测试进行处理，

其中，被选择的相交测试单元对输入光线的相交测试进行处理。