[发明专利]一种绝对光栅尺编码宏微复合采集方法

权利要求书

1.一种绝对光栅尺编码宏微复合采集方法，所述绝对光栅尺为布置有并列排列的低精度编码码道（1）及高精度编码码道（2）的双码道光栅尺，其特征在于绝对光栅尺上装设有cmos传感器（6），cmos传感器（6）包括有多行扫描方式、斜扫描读出方式、抛物线扫描读出方式，多行扫描方式扫描一行编码道，斜扫描读出方式及抛物线扫描读出方式扫描另一行编码道, 多行扫描方式、斜扫描读出方式、抛物线扫描读出方式三种扫描宏微复合对编码进行采集。

2.根据权利要求1所述的绝对光栅尺编码宏微复合采集方法，其特征在于上述多行扫描方式用于扫描低精度编码码道（1），斜扫描读出方式及抛物线扫描读出方式用于高精度编码码道（2）扫描。

3.根据权利要求1所述的绝对光栅尺编码宏微复合采集方法，其特征在于上述多行扫描方式扫描低精度编码码道（1）为高速扫描，斜扫描读出方式及抛物线扫描读出方式扫描高精度编码码道（2）为低速扫描。

4.根据权利要求1所述的绝对光栅尺编码宏微复合采集方法，其特征在于上述斜扫描读出方式及抛物线扫描读出方式低速扫描高精度编码码道（2）时，多行扫描方式同时高速扫描低精度编码码道（1）。

5.根据权利要求1所述的绝对光栅尺编码宏微复合采集方法，其特征在于上述cmos传感器（6）的扫描电路的脉冲是在XY地址方式下，选择排列在摄影面的像素为目的，在这种方式下利用变化扫描电路的脉冲时序方式使cmos图像传感器能高自由度的跳跃存取，实现cmos图像传感器每帧逐行扫描多行，或斜线扫描一行，或抛物线扫描一次。

6.根据权利要求1所述的绝对光栅尺编码宏微复合采集方法，其特征在于上述cmos传感器（6）的多行扫描方式通过XY地址方式在cmos像素阵列上多行扫描区域的每个像素单元施加一个脉冲。

7.根据权利要求1所述的绝对光栅尺编码宏微复合采集方法，其特征在于上述cmos传感器（6）的斜扫描读出方式通过XY地址方式在cmos像素阵列面上的任意斜线上的每个像素单元施加一个脉冲。

8.根据权利要求1所述的绝对光栅尺编码宏微复合采集方法，其特征在于上述cmos传感器（6）的抛物线扫描读出方式同样是通过XY地址方式在cmos像素阵列面上的任意抛物线上每个像素单元施加一个脉冲。