[发明专利]一种工业EPON冗余组网可靠性分析方法有效

专利信息
申请号: 201310319878.7 申请日: 2013-07-26
公开(公告)号: CN103369416A 公开(公告)日: 2013-10-23
发明(设计)人: 鲍兴川;余勇;林为民;郭经红;张小建;蒋诚智;郭骞;石聪聪;冯谷;曹宛恬;李尼格;范杰 申请(专利权)人: 国家电网公司;中国电力科学研究院
主分类号: H04Q11/00 分类号: H04Q11/00;H04L12/26
代理公司: 北京安博达知识产权代理有限公司 11271 代理人: 徐国文
地址: 100031 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 工业 epon 冗余 组网 可靠性分析 方法
【权利要求书】:

1.一种工业EPON冗余组网可靠性分析方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:

(1)将配电通信网接入层EPON冗余保护网最小路径划分为“点”到“线”再到“点”的方式;

(2)计算“点”和“线”的可用度,采用串并法的分析方法,得到路径的可用度;

(3)采用所述串并法的分析方法,分析多条路径的可用度,得到网络任意节点间的可用度;

(4)计算所有所述任意节点间的可用度的算术平均值,得到全网的可用度;

(5)根据组网方式不同,分别计算工业EPON冗余组网的可用度。

2.如权利要求1所述的可靠性分析方法,其特征在于,步骤(1)中将网络通信设备划分为“点”,将网络传输介质划分为“线”。

3.如权利要求1所述的可靠性分析方法,其特征在于,步骤(2)采用串并法的分析方法,得到路径的可用度的步骤包括:

对于串联系统:

设路径P经过的节点集合NP={n1,n2,……,nx},链路集合MP={m1,m2,……,mx-1},则路径相当于经过该路径所有节点和链路的串联系统,路径可靠性是这些节点和链路可靠性的乘积;路径可靠性的表达式为:

Rp=Πi=1x-1(Rn,iRm,i)=Rx(R1,1R1,1)(R2,2R2,2)······(Rn,x-1Rm,x-1)---(1);]]>

式中,Rp为串联系统中路径的可靠性,x为“点”的数量;Rx为第x个“点”的可靠性;Rn,i为第i个节点可靠性;Rm,i为第i个链路的可靠性;

对于并联系统:

N个冗余系统的可靠性的情况,假设路径P’中由链路集合MP={m1,m2,……,mx-1}个子系统组成,当且仅当全部链路都不能正常工作时,路径P’不通,只要有一个链路正常,系统就正常工作,则路径可靠性的表达式为:

RP,=1-Πi=1x-1(1-Rm,i)=1-(1-Rm,1)(1-Rm,2)······(1-Rm,x-1)---(2);]]>

式中,RP’为并联系统中路径的可靠性。

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