[发明专利]粒子射线治疗装置及粒子射线治疗方法有效

专利信息
申请号: 201310320694.2 申请日: 2008-05-13
公开(公告)号: CN103394166A 公开(公告)日: 2013-11-20
发明(设计)人: 原田久;高桥理;蒲越虎 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: A61N5/10 分类号: A61N5/10
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 侯颖媖
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 粒子 射线 治疗 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种粒子射线治疗装置,该粒子射线治疗装置将目标体积的预定区域沿粒子射线的行进方向分割成多层来照射所述粒子射线,其特征在于,包括:

粒子射线照射部,该粒子射线照射部具有将所述粒子射线的剂量作为计数值进行监视的剂量监视器、及将所述多层的各层中的布拉格峰扩大的脊形过滤器,并在所述预定区域内形成照射区;以及

治疗控制部,该治疗控制部控制所述粒子射线照射部的动作,使得在将利用剂量校正而对各层的每一层得到的校正系数设为αi时,若所述计数值达到由下面的公式(A)所表示的值,则停止对所述第i层的所述粒子射线的照射,转移至与所述第i层不同的层的照射,其中,该剂量校正中,将对所述多层中的第i层照射所述粒子射线时的物理剂量除以所述计数值,

由所述脊形过滤器扩大后的布拉格峰在物理剂量PDD曲线的至少一部分具有平坦区域,以所述平坦区域的宽度比所述剂量校正时能达到的位置精度要宽的方式形成所述平坦区域,并且所述校正系数是利用在所述平坦区域进行的所述剂量校正而得到的校正系数,

K0·dMINIPEAK_PHYS(z0)·Wi/αi…式(A)

其中,

K0:用于得到处方剂量的标准化系数,

dMINIPEAK_PHYS(z0):所述粒子射线的行进方向的最深的层中由所述脊形过滤器扩大后的布拉格峰的物理剂量PDD曲线顶点的值,

z0:由所述脊形过滤器扩大后的布拉格峰的PDD曲线顶点的深度,

Wi:对所述多层中的第i层的剂量加权。

2.如权利要求1所述的粒子射线治疗装置,其特征在于,所述治疗控制部按照预先由治疗计划部执行的剂量计算的输出,来设定对所述多层的各层照射的目标剂量。

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