[发明专利]利用标准辐射温度计测量高温表面温度均匀性的方法

权利要求书

1.一种利用标准辐射温度计测量高温表面温度均匀性的方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：

（1）在被测物体表面喷涂上黑色、发射率大于0.88的涂料，涂层厚度控制在0.05～0.1mm；

（2）待步骤（1）所述的涂料干燥后，加热被测物体至500～1000℃，保持温度30min以上，采用光谱发射率测量仪测得涂料的发射率数据ε，测量发射率的准确度<0.01；

（3）在步骤（2）测量后稳定10min以上，采用可调发射率参数的标准辐射温度计进行测量，测量前先调节标准辐射温度计发射率参数为ε，以抑制发射率对表面温度测量的影响，然后开始测量被测物体表面温度T：

在被测物体表面选取5～9个位置，分别测量这些位置处的温度值T₁～T₅，记录最大值为T_max，温度最小值为T_min，计算被测物体表面温度均匀性为T_max-T_min。

2.根据权利要求1所述的一种利用标准辐射温度计测量高温表面温度均匀性的方法，其特征在于，所述的高温表面的温度上限为1000℃。

3.根据权利要求1所述的一种利用标准辐射温度计测量高温表面温度均匀性的方法，其特征在于，所述的涂料为意大利OMP公司的黑色高发射率涂料。

4.根据权利要求1所述的一种利用标准辐射温度计测量高温表面温度均匀性的方法，其特征在于，所述的光谱发射率测量仪为美国ET公司的ET100光谱发射率测量仪。

5.根据权利要求1所述的一种利用标准辐射温度计测量高温表面温度均匀性的方法，其特征在于，所述的标准辐射温度计为德国斯图加特大学的LP5标准辐射温度计。