[发明专利]基于模拟sinc核采样的雷达高分辨距离成像方法

权利要求书

1.一种基于模拟sinc核采样的雷达高分辨距离成像方法，其特征在于，包括如下步骤：

1)对雷达回波信号进行模拟sinc核采样，其中雷达发射信号为线性调频信号LFM：

sT(t)=rect(tT0)exp(j2π(fct+12Kt2))]]>

式中，f_c是信号载频信息，T₀是发射信号的脉冲宽度，K(K=B／T₀)是线性调频率，B是线性调频信号的带宽，t为快时间，T为雷达发射脉冲的重复周期，假设场景中的散射点个数为L；低速采样得到采样值{c[1]，c[2]，Kc[p]，K，c[P]}，其中p表示脉冲序号，P为脉冲积累数，c[p]＝[c_p1，c_p2，K，c_pM]^T为第p个脉冲的采样值，M为每个脉冲的采样点数；

2)估计回波信号的傅里叶系数；对步骤1)所述的采样值进行操作，得到回波信号的傅里叶系数{x[1]，x[2]，K，x[P]}，其中x[p]＝[x_p1，x_p2，K，x_pM]为第p个脉冲回波信号的傅里叶系数，M表示所需的傅里叶系数个数；

3)估计雷达目标复包络矩阵；采用联合稀疏贝叶斯学习算法求解雷达目标复包络矩阵B_N×P={b[1]，b[2]，K，b[P]}，其中N表示距离单元数，b[p]＝[b_p1，b_p2，K，b_pN]^T表示雷达发射第p个脉冲时距离单元对应的目标复包络；

4)雷达高分辨距离成像方法；根据步骤3)中所得到的目标复包络矩阵进行快速傅里叶变换操作，最终得到高分辨目标距离像。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，其中步骤1)所述的模拟sinc核采样结构包括采样核和低速ADC两部分；

模拟sinc采样核为：

h(-t)=Bssinc(-Bst)=sin(-πBst)-πt]]>

低速ADC的速率为T_s=T/M，远低于奈奎斯特采样率。