[发明专利]一种基于RFID管理的质量事故快速定位方法

说明书

技术领域

本发明涉及的是一种基于RFID管理的质量事故快速定位方法，主要针对RFID管理中所涉及到的质量事故进行快速定位。在基于RFID技术获取到的庞大信息基础上，利用信息熵理论，对发生的质量事故进行快速定位。

背景技术

随着物联网技术的发展，目前的各种质量管理系统开始采用RFID技术，例如物流管理、零售业、工业生产等。RFID质量管理系统由RFID标签、读写器和天线组成，软件系统包括数据采集和应用系统两部分。为每一个物品以及相关人员都配备一个RFID标签，通过对RFID读写器的适当布局，结合其与标签的远距离、多目标同时读取的特性，能够实现物品信息实时、批量录取，准确的记录目标物品处理过程中的相关信息，包括每一个环节中责任人、处理方法、处理辅助设备、日期等信息，为每个物品形成完整、详细的操作记录。

例如将一批货物从北京发往成都的过程，在出库时首先对出库的物品使用RFID进行扫描，同时扫描负责出库的人员，出库之前物品存储位置等各项信息，然后进行装车，同样使用RFID对装车人员、车辆等进行记录。当货物到达郑州中转站时，再对各项信息进行扫描记录，最后到达成都之后，进行卸货，要对卸货人员等进行记录。这样就记录了这一批货物在整个过程中各个阶段所有相关的信息。RFID一致性检查还可以直接检查出物流过程中的物品丢失等事故，能够大大提高物流效率。

目前的系统通过RFID技术实现对目标物品的全程历史信息记录，针对RFID一致性检查能够发现的错误可当场发现，并及时解决。但是有一些质量事故如消毒供应中心的器械污染、有血迹等，加工的产品有缺陷等通过RFID无法直接发现，只有在使用时才能发现。我们可以通过该物品的RFID标签查询到该物品处理过程中的每一环节涉及到的相关人员、设备、处理方法等，但是不能通过单条的历史记录确定哪一个环节、哪一个属性导致了事故的发生，需要人为的对历史记录进行分析，与相关人员进行沟通来确定事故原因。数据库中的历史信息为事故的原因定位提供了很大的提示作用和信息支持，通过对数据库中历史信息的分析，可以找出最容易出问题的环节，以及相关的责任人或其他属性，因此，对数据库进行分析也可以确定可能导致事故的原因。确定事故原因后需对同批次可能发生同样事故的物品进行适当的处理，如追回等，并对导致事故原因的属性做一定处理。

人工分析历史信息进行事故原因定位的工作量较大，而且效率低下。而数据库中的信息量也极其庞大，通过查询数据库中的历史信息来挖掘有用信息，定位质量事故原因也是非常困难，甚至不可能的。并且为了减少由于质量事故而造成的损失，应尽可能快的找到事故原因，以避免导致更严重的事故，或者更大的损失，因此此类事故原因的定位对实时性要求较强，而现在的质量事故定位方法无法满足实时性要求。

发明内容

本发明需要解决的问题

通过前面的分析，结合质量事故定位的需求，本发明主要实现基于RFID管理的过程中，对由RFID技术无法直接检测到的质量事故进行快速定位。本发明需要解决如下的问题：

1、数据库信息量庞大，分析困难。现有系统仅对历史信息进行整理、存储，同时提供查询，然而并没有做其他处理，当事故发生时，只能通过查询大量的数据库信息，对目标物品涉及到的每一个人员、设备等的历史信息进行查询，对其出错率及可靠性进行评估，来确定事故原因。本发明通过对历史数据进行样本化处理，将历史信息有效的利用起来，建立规模远小于原始数据库的样本数据库，并经常根据实际情况对样本数据库进行更新，为质量事故原因定位提供有用的数据支持。

2、事故定位困难，所需时间长，无法满足实时性要求。现有系统只是为用户提供发生事故的物品的历史信息，需要用户自己分析、判断事故发生原因，在信息量大的情况下，人为分析、判断困难，导致对事件反应处理慢。本方法通过对处理好的抽样信息进行信息熵计算，对每一个属性的出错概率进行评估，当发生质量事故时，根据评估内容，实现自动快速、准确的定位。

为了解决上述技术问题，本发明采用以下技术方案：

一种基于RFID管理的质量事故快速定位方法，其特征在于包括以下步骤：

1)、建立样本数据库，并给出事故关联度调节因子α和β以及信息熵的阈值θ的值；