[发明专利]多晶硅铸锭的方法在审
申请号: | 201310323238.3 | 申请日: | 2013-07-29 |
公开(公告)号: | CN104342752A | 公开(公告)日: | 2015-02-11 |
发明(设计)人: | 龙昭钦;戴云林;刘晓风;周慧敏;徐志群;金浩;陈康平 | 申请(专利权)人: | 晶科能源有限公司 |
主分类号: | C30B28/06 | 分类号: | C30B28/06;C30B29/06 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 334100 江西*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 多晶 铸锭 方法 | ||
1.一种多晶硅铸锭的方法,其特征在于,包括:
在坩埚的底部形成第一预设厚度的涂层,所述涂层中含有固体颗粒物,所述固体颗粒物为石英砂、氮化硅粉、碳化硅粉中的至少一种,并在所述坩埚的底部和内侧壁上喷涂氮化硅;
在所述坩埚的底部铺设第二预设厚度的碎硅片,所述碎硅片的形状和尺寸不完全相同且布满所述坩埚的底部,然后将硅料装入所述坩埚内,所述硅料压迫所述碎硅片,在所述涂层上形成凹痕;
整体加热所述坩埚,直至所述碎硅片和所述硅料全部熔化。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一预设厚度的范围为1mm~5mm,包括端点值。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述在坩埚的底部形成第一预设厚度的涂层具体包括:
将所述固体颗粒物融入硅溶胶内形成涂覆液;
将所述涂覆液涂覆至所述坩埚的底部,形成所述第一预设厚度的涂层。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述固体颗粒物的粒径小于或等于150μm。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述固体颗粒物的重量与所述硅溶胶的重量的比例范围为1:10~1:1,包括端点值。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第二预设厚度的范围为3mm~30mm,包括端点值。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述碎硅片的尺寸的范围为2mm×2mm~20mm×20mm,包括端点值。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述坩埚的底部铺设第二预设厚度的碎硅片,所述碎硅片的形状和尺寸不完全相同且布满所述坩埚的底部,与所述然后将硅料装入所述坩埚内之间还包括:在铺设完所述碎硅片的坩埚的底部铺放碎硅块,使所述碎硅块布满所述坩埚的底部。
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