[发明专利]自动调整主板测试流程的系统及其实现方法

权利要求书

1.一种自动调整主板测试流程的系统，其特征在于，该系统包括：

识别模块，用于识别主板所需要测试的待测单项；

读取模块，用于从数据库中读取该待测单项的测试故障率；

调整模块，将各待测单项按照测试故障率由高到低的测试顺序排列，形成新的测试流程；

测试模块，将所有该待测单项依照新的测试流程利用测试工具进行测试，取得测试结果；

保存模块，将每个该待测单项的测试结果存入数据库中。

2.根据权利要求1所述的自动调整主板测试流程的系统，其特征在于，所述测试结果包括测试时间和测试通过情况。

3.根据权利要求1或2所述的自动调整主板测试流程的系统，其特征在于，所述测试故障率由测试通过情况计算得出，该待测单项完成测试后，更新所述数据库中该待测单项的测试故障率，并在下次测试时读取该测试故障率。

4.根据权利要求1所述的自动调整主板测试流程的系统，其特征在于，若该待测单项的测试顺序不可调整，则固定该测试顺序，并将可调整测试顺序的待测单项按照故障率由高到低的排列逐个插入该测试顺序中，形成新的测试流程。

5.根据权利要求1所述的自动调整主板测试流程的系统，其特征在于，所述待测单项包含CPU、内存、硬盘、光驱、南桥芯片组、北桥芯片组、PCI总线。

6.一种自动调整主板测试流程的方法，适用于上述自动调整主板测试流程的系统，其特征在于，该方法包括以下步骤：

识别主板所需要测试的待测单项；

根据所识别的待测单项，从数据库中读取对应该待测单项测试故障率；

将各待测单项按照测试故障率由高到低的测试顺序排列，形成新的测试流程；

将所有该待测单项依照新的测试流程利用测试工具进行测试，取得测试结果；

将每个该待测单项的测试结果存入数据库中。

7.根据权利要求6所述的自动调整主板测试流程的方法，其特征在于，所述测试结果包括测试时间和测试通过情况。

8.根据权利要求6或7所述的自动调整主板测试流程的方法，其特征在于，所述测试故障率由测试通过情况计算得到，该待测单项完成测试后，更新所述数据库中该待测单项的测试故障率，并在下次测试时读取该测试故障率。

9.根据权利要求6所述的自动调整主板测试流程的方法，其特征在于，若该待测单项的测试顺序不可调整，则固定该测试顺序，并将可调整测试顺序的待测单项按照故障率由高到低的排列逐个插入该测试顺序中，形成新的测试流程。

10.根据权利要求6所述的自动调整主板测试流程的方法，其特征在于，所述待测单项包含CPU、内存、硬盘、光驱、南桥芯片组、北桥芯片组、PCI总线。