[发明专利]一种液晶屏的质量检测方法、装置及设备有效

专利信息
申请号: 201310326270.7 申请日: 2013-07-30
公开(公告)号: CN104345481B 公开(公告)日: 2017-11-10
发明(设计)人: 尹岩岩;薛静;邢红燕;崔子巍;韩发龙 申请(专利权)人: 北京京东方光电科技有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司11270 代理人: 张颖玲,王黎延
地址: 100176 北京市*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 液晶屏 质量 检测 方法 装置 设备
【说明书】:

技术领域

发明涉及液晶屏的质量检测技术,具体涉及一种液晶屏的质量检测方法、装置及设备。

背景技术

在传统的液晶屏工艺中,对液晶屏产品进行不良检测、以及对液晶屏产品最终判断级别的阶段全部为人工作业。但是,由于人的视觉差异或者人为因素等原因,会造成对液晶屏产品的误判、漏检,影响液晶屏产品的出厂品质及良品率。

发明内容

有鉴于此,本发明的主要目的在于提供一种液晶屏的质量检测方法、装置及设备,能够有效区分出产品的不良类型并记录产品的不良位置,从而能够有效减少由于人为视觉差异等造成的误判或漏检,提高产品的出厂品质及良品率。

为达到上述目的,本发明的技术方案是这样实现的:

一种液晶屏的质量检测方法,包括:

获取所述液晶屏的光学参数;

采集所述液晶屏的图像;

判定所述光学参数不在预设的光学参数范围内和/或所述采集的液晶屏的图像与预先存储的图像不一致时,确定所述液晶屏为不良。

进一步的,所述确定所述液晶屏为不良,包括:

判定所述光学参数不在所述预设的光学参数范围内和/或所述采集的液晶屏的图像与预先存储的图像不一致之后,判断不良是否在同一平面,确定所述不良在同一平面时,则确定所述液晶屏为盒内不良。

进一步的,所述方法还包括:

确定所述不良不在同一平面时,判断所述液晶屏是否破损,确定所述液晶屏破损时,则确定所述液晶屏为破损类不良。

进一步的,所述方法还包括:

确定所述液晶屏没有破损后,根据所述不良的画面判断不良类型;

所述根据所述不良的画面判断不良类型,包括:

若所述不良通过灰阶L0画面发现,则确定所述不良为偏光片(POL,Polarizer)类不良或线类不良;

若所述不良通过灰阶L255画面发现,则确定所述不良为背光源组件(BLU,Back Light Unit)类不良。

进一步的,所述方法还包括:

若所述不良不是通过灰阶L0画面发现且不是通过灰阶L255画面发现,则将所述不良图像与预先存储的不良图像匹配,确定所述不良图像与预先存储的不良图像一致时,确定所述不良名称。

进一步的,所述方法还包括:确定不良类型后,记录所述不良的位置坐标。

进一步的,所述方法还包括:

若所述液晶屏无不良出现,则确定所述液晶屏为最优级别,将所述液晶屏从第一通道流出;

若所述液晶屏出现盒内不良,则确定所述液晶屏为最低级别,将所述液晶屏从第一通道流出;

若所述液晶屏出现破损类不良,将所述液晶屏从第二通道流出,做报废处理;

若所述液晶屏出现POL类不良、线类不良或BLU类不良,将所述液晶屏从第三通道流出,做返工处理。

一种液晶屏的质量检测装置,所述装置包括:检测单元、图像采集单元和分析处理单元;其中,

所述检测单元,用于检测所述液晶屏,获取所述液晶屏的光学参数,将所述光学参数发送给所述分析处理单元;

所述图像采集单元,用于采集所述液晶屏的图像,将所述采集的液晶屏的图像发送给所述分析处理单元;

所述分析处理单元,用于在判断所述光学参数不在所述预设的光学参数范围内和/或所述采集的液晶屏的图像与预先存储的图像不一致时,确定所述液晶屏为不良。

进一步的,所述分析处理单元包括:判断单元和类型确定单元;其中,

所述判断单元,用于判断所述光学参数是否在预先设置的光学参数范围内;以及判断所述采集的液晶屏的图像与预先存储的图像是否一致;

所述类型确定单元,用于根据所述判断单元的判断结果确定不良类型。

进一步的,所述判断单元,用于在判断所述光学参数不在所述预先设置的光学参数范围内和/或所述采集的液晶屏的图像与预先存储的图像不一致之后,判断不良是否在同一平面;

所述类型确定单元,用于当所述判断单元的判断结果为不良在同一平面时,确定所述液晶屏为盒内不良。

进一步的,所述判断单元,还用于确定不良不在同一平面时,判断所述液晶屏是否破损;

所述类型确定单元,还用于当所述判断单元的判断结果为液晶屏破损时,确定所述液晶屏为破损类不良。

进一步的,所述判断单元,还用于确定所述液晶屏没有破损后,根据所述不良的画面判断不良类型;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京京东方光电科技有限公司,未经北京京东方光电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310326270.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top