[发明专利]一种液晶屏的质量检测方法、装置及设备有效
申请号: | 201310326270.7 | 申请日: | 2013-07-30 |
公开(公告)号: | CN104345481B | 公开(公告)日: | 2017-11-10 |
发明(设计)人: | 尹岩岩;薛静;邢红燕;崔子巍;韩发龙 | 申请(专利权)人: | 北京京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司11270 | 代理人: | 张颖玲,王黎延 |
地址: | 100176 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 液晶屏 质量 检测 方法 装置 设备 | ||
技术领域
本发明涉及液晶屏的质量检测技术,具体涉及一种液晶屏的质量检测方法、装置及设备。
背景技术
在传统的液晶屏工艺中,对液晶屏产品进行不良检测、以及对液晶屏产品最终判断级别的阶段全部为人工作业。但是,由于人的视觉差异或者人为因素等原因,会造成对液晶屏产品的误判、漏检,影响液晶屏产品的出厂品质及良品率。
发明内容
有鉴于此,本发明的主要目的在于提供一种液晶屏的质量检测方法、装置及设备,能够有效区分出产品的不良类型并记录产品的不良位置,从而能够有效减少由于人为视觉差异等造成的误判或漏检,提高产品的出厂品质及良品率。
为达到上述目的,本发明的技术方案是这样实现的:
一种液晶屏的质量检测方法,包括:
获取所述液晶屏的光学参数;
采集所述液晶屏的图像;
判定所述光学参数不在预设的光学参数范围内和/或所述采集的液晶屏的图像与预先存储的图像不一致时,确定所述液晶屏为不良。
进一步的,所述确定所述液晶屏为不良,包括:
判定所述光学参数不在所述预设的光学参数范围内和/或所述采集的液晶屏的图像与预先存储的图像不一致之后,判断不良是否在同一平面,确定所述不良在同一平面时,则确定所述液晶屏为盒内不良。
进一步的,所述方法还包括:
确定所述不良不在同一平面时,判断所述液晶屏是否破损,确定所述液晶屏破损时,则确定所述液晶屏为破损类不良。
进一步的,所述方法还包括:
确定所述液晶屏没有破损后,根据所述不良的画面判断不良类型;
所述根据所述不良的画面判断不良类型,包括:
若所述不良通过灰阶L0画面发现,则确定所述不良为偏光片(POL,Polarizer)类不良或线类不良;
若所述不良通过灰阶L255画面发现,则确定所述不良为背光源组件(BLU,Back Light Unit)类不良。
进一步的,所述方法还包括:
若所述不良不是通过灰阶L0画面发现且不是通过灰阶L255画面发现,则将所述不良图像与预先存储的不良图像匹配,确定所述不良图像与预先存储的不良图像一致时,确定所述不良名称。
进一步的,所述方法还包括:确定不良类型后,记录所述不良的位置坐标。
进一步的,所述方法还包括:
若所述液晶屏无不良出现,则确定所述液晶屏为最优级别,将所述液晶屏从第一通道流出;
若所述液晶屏出现盒内不良,则确定所述液晶屏为最低级别,将所述液晶屏从第一通道流出;
若所述液晶屏出现破损类不良,将所述液晶屏从第二通道流出,做报废处理;
若所述液晶屏出现POL类不良、线类不良或BLU类不良,将所述液晶屏从第三通道流出,做返工处理。
一种液晶屏的质量检测装置,所述装置包括:检测单元、图像采集单元和分析处理单元;其中,
所述检测单元,用于检测所述液晶屏,获取所述液晶屏的光学参数,将所述光学参数发送给所述分析处理单元;
所述图像采集单元,用于采集所述液晶屏的图像,将所述采集的液晶屏的图像发送给所述分析处理单元;
所述分析处理单元,用于在判断所述光学参数不在所述预设的光学参数范围内和/或所述采集的液晶屏的图像与预先存储的图像不一致时,确定所述液晶屏为不良。
进一步的,所述分析处理单元包括:判断单元和类型确定单元;其中,
所述判断单元,用于判断所述光学参数是否在预先设置的光学参数范围内;以及判断所述采集的液晶屏的图像与预先存储的图像是否一致;
所述类型确定单元,用于根据所述判断单元的判断结果确定不良类型。
进一步的,所述判断单元,用于在判断所述光学参数不在所述预先设置的光学参数范围内和/或所述采集的液晶屏的图像与预先存储的图像不一致之后,判断不良是否在同一平面;
所述类型确定单元,用于当所述判断单元的判断结果为不良在同一平面时,确定所述液晶屏为盒内不良。
进一步的,所述判断单元,还用于确定不良不在同一平面时,判断所述液晶屏是否破损;
所述类型确定单元,还用于当所述判断单元的判断结果为液晶屏破损时,确定所述液晶屏为破损类不良。
进一步的,所述判断单元,还用于确定所述液晶屏没有破损后,根据所述不良的画面判断不良类型;
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