[发明专利]近红外谷物成分分析仪

权利要求书

1.近红外谷物成分分析仪，包括：样品室（8），安装在样品室（8）上下端的阀门（10）和滚轮（12），分别靠近样品室（8）前窗口和后窗口设置的近红外光路系统和透射光收集系统，上位机系统（19），与上位机系统（19）电连接的控制模块（18）；所述透射光收集系统与控制模块（18）电连接；

其特征在于，还包括：与所述近红外光路系统中的采用铝合金制成的滤光片盘（5）电连接的第一步进电机（6），分别与阀门（10）和滚轮（12）电连接的第二步进电机（9）和第三步进电机（14）；

所述第一步进电机（6）、第二步进电机（9）和第三步进电机（14）均与控制模块（18）电连接，所述控制模块（18）接收上位机系统（19）指令控制第一步进电机（6）带动滤光片盘（5）旋转并设置其滤光波长，控制第二步进电机（9）开启和关闭阀门（10）进行下料，控制第三步进电机（14）带动滚轮（12）转动进行出料；

所述近红外光路系统中的近红外光通过样品室（8）前窗口进入样品室（8）对样品进行透射，透射光收集系统通过样品室（8）后窗口接收光谱弱信号并对其处理后输送至控制模块（18），控制模块（18）将采集到的光谱数据输送至上位机系统（19）中，利用上位机系统（19）中的光谱处理分析软件对光谱数据进行分析处理。

2.根据权利要求1所述的近红外谷物成分分析仪，其特征在于，所述近红外光路系统还包括：光源（1）、准直透镜（2）、有色玻璃（3）、汇聚透镜（4）和毛玻璃（7），所述光源（1）的光线依次经准直透镜（2）准直、有色玻璃（3）过滤、汇聚透镜（4）汇聚调整、滤光片盘（5）滤波、毛玻璃（7）调整强度后通过样品室（8）前窗口进入样品室（8）。

3.根据权利要求2所述的近红外谷物成分分析仪，其特征在于，所述光源（1）采用卤素灯，光源（1）与控制模块（18）电连接，控制模块（18）接收上位机系统（19）指令控制光源（1）的开关并对光源（1）的光强大小进行调节。

4.根据权利要求1所述的近红外谷物成分分析仪，其特征在于，所述透射光收集系统包括：靠近样品室（8）后窗口设置的探测器（15）、与探测器（15）电连接的三级放大器（16）和与三级放大器（16）电连接的A/D转换器（17）；所述A/D转换器（17）与控制模块（18）电连接，所述探测器（15）接收近红外光对样品进行透射后携带样品信息的光谱弱信号并将光谱弱信号转换为电信号，三级放大器（16）对电信号进行运算放大后传入A/D转换器（17），A/D转换器（17）将模拟信号转换为数字信号后将其传入控制模块（18）。

5.根据权利要求4所述的近红外谷物成分分析仪，其特征在于，所述探测器（15）为硅探测器。

6.根据权利要求4所述的近红外谷物成分分析仪，其特征在于，所述三级放大器（16）采用AD820芯片、AD526芯片和AD526芯片联用对光谱弱信号进行三级运算放大。

7.根据权利要求1所述的近红外谷物成分分析仪，其特征在于，所述有色玻璃（3）为截止滤光片，用于消除近红外光路系统中的二极光谱。

8.根据权利要求1所述的近红外谷物成分分析仪，其特征在于，所述滤光片盘（5）采用滤光片式分光模式，过滤可见光后再进行特定波长的选择，并将复合光转换为单色光。

9.根据权利要求1所述的近红外谷物成分分析仪，其特征在于，还包括设置在所述阀门（10）上端的进料漏斗（11）和设置在所述滚轮（12）下端的出料漏斗（13）。

10.根据权利要求1所述的近红外谷物成分分析仪，其特征在于，所述控制模块（18）为微控芯片。