[发明专利]低阶系统ITAE最优的PI控制器参数整定方法及系统

权利要求书

1.一种低阶系统ITAE最优的PI控制器参数整定方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取被控对象参数域，在该参数域的区间上进行等分处理，得到若干组等分点上的参数值；

根据所述等分点上的参数值计算PI控制器的稳定参数域；

以ITAE指标为目标函数，在所述稳定参数域中进行寻优计算，获得ITAE指标最优的PI控制器参数值。

2.根据权利要求1所述的低阶系统ITAE最优的PI控制器参数整定方法，其特征在于，获得所述PI控制器参数值之后，还包括步骤：

根据模型参数不确定性对所述PI控制器参数值进行鲁棒稳定性检验；

采用蒙特卡洛随机试验，获得鲁棒性能的评价指标，根据所述评价指标定量评价性能鲁棒性；所述评价指标包括：性能点随机分布范围、均值以及方差。

3.根据权利要求1或2所述的低阶系统ITAE最优的PI控制器参数整定方法，其特征在于，进行等分处理的过程包括：

在参数域D=[k‾,k‾]×[τ‾,τ‾]×[L‾,L‾]]]>上，对区间分别进行等分，然后按照如下公式在等分点选取参数值(k_i,τ_j,L_n)：

ki=k‾+ik‾-k‾Nk,i=0,1,2,...,Nk;]]>

τj=τ‾+jτ‾-τ‾Nτ,j=0,1,2,...,Nτ;]]>

Ln=L‾+nL‾-L‾NL,n=0,1,2,...,NL;]]>

式中，N_k,N_τ,N_L为上述三个区间的等分个数。