[发明专利]分析设备控制系统和分析设备控制方法

说明书

技术领域

本发明涉及用于对诸如红外分光光度计、紫外-可见分光光度计和色谱仪等的分析设备进行控制的分析设备控制系统。特别地，本发明涉及用于对具有管理与消耗部件有关的信息的功能的分析设备进行控制的分析设备控制系统。本发明还涉及这种分析设备控制系统所用的析设备控制方法和程序。

背景技术

通常，上述各种分析设备包括特定使用持续时间之后应当更换的消耗部件。在液相色谱仪系统的情况下，分离管柱和检测器所用的灯是消耗部件。这些消耗部件根据总时间长度和使用次数而消耗，因而必须适时更换。在无法适当地管理这些消耗部件的情况下，可能会影响测量精度，这可能不利地降低测量结果的可靠性。

近年来，为了使测量结果的质量稳定，保持分析环境恒定特别重要。这涉及消耗部件的适当更换。鉴于这些要求，许多分析设备和分析设备控制系统具有用于向用户通知消耗部件的使用状况并且提供针对消耗部件的更换的初步指导的功能。例如，专利文献1公开了如下系统：向能够更换的各部件安装识别模块，并且基于从各识别模块所提供的信息信号来管理这些部件的使用状况。这使得即使将部件从一个分析系统转移至另一分析系统也能够正确地管理与这些部件有关的信息。

背景技术文献

专利文献

专利文献1日本特开2005-283332

发明内容

发明要解决的问题

专利文献1所公开的系统和具有管理消耗部件的相似功能的其它传统分析设备控制系统主要提供与各消耗部件有关的以下两种信息。

(1)当前时刻的使用状况，其由到当前时刻为止的使用次数或使用时间来表示，并且与作为更换用基准值的最大使用次数或最大使用时间相对比地进行显示。

(2)在使用次数或使用时间超过更换用基准值的情况下，还显示警告。

显示这种信息可以向用户提供与当前时刻使用的消耗部件有关的最新更换信息。然而，用户无法获得与消耗部件应当何时更换有关的信息。

用于解决问题的方案

为了解决上述问题，本发明提供一种分析设备控制系统，用于对包括一个或多个消耗部件的分析设备进行控制，所述分析设备控制系统包括：

使用限度存储单元，用于针对各消耗部件存储预定的使用限度值；

使用度管理单元，用于管理各消耗部件的直到当前时刻为止的使用度；

估计更换日期计算单元，用于基于所述使用限度值和所述使用度来计算各消耗部件的估计更换日期；以及

消耗信息显示单元，用于将各消耗部件的所述估计更换日期以预定的显示格式呈现在显示器上。

根据本发明的分析设备控制系统可以与分析设备本身一体化。

近年来，分析设备不总是用作单机系统。作为代替，在多数情况下，控制计算机(以下将称为“PC”)连接至分析设备，从而控制该分析设备并且分析和管理通过进行分析所获得的数据。通常，一台控制PC可以连接多个不同的分析设备。本发明还可应用于这种系统。

本发明还提供一种分析设备控制方法，用于对包括一个或多个消耗部件的分析设备进行控制，所述分析设备控制方法包括：

使用度管理步骤，用于管理各消耗部件的直到当前时刻为止的使用度；

估计更换日期计算步骤，用于基于所述使用度以及存储在使用限度存储单元中的预定的使用限度值来计算各消耗部件的估计更换日期；以及

消耗信息显示步骤，用于将各消耗部件的所述估计更换日期以预定的显示格式呈现在显示器上。

本发明还提供一种分析设备控制系统用的程序，所述分析设备控制系统用于对包括一个或多个消耗部件的分析设备进行控制，所述程序被设计成在能够访问用于针对各消耗部件存储预定的使用限度值的使用限度存储单元的计算机上执行，从而使所述计算机用作以下单元：

使用度管理单元，用于管理各消耗部件的直到当前时刻为止的使用度；

估计更换日期计算单元，用于基于所述使用限度值和所述使用度来计算各消耗部件的估计更换日期；以及

消耗信息显示单元，用于将各消耗部件的所述估计更换日期以预定的显示格式呈现在显示器上。

发明的效果