[发明专利]一种磁共振质量控制多参数测试体模有效

专利信息
申请号: 201310334248.7 申请日: 2013-08-03
公开(公告)号: CN103364753A 公开(公告)日: 2013-10-23
发明(设计)人: 康立丽;张丽媛;贺杰禹 申请(专利权)人: 南方医科大学
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人: 汤东凤
地址: 510515 广东省广州市广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 磁共振 质量 控制 参数 测试
【说明书】:

技术领域

发明涉及核磁共振质量保证和质量控制领域,特别是涉及一种磁共振质量控制多参数测试体模。

背景技术

    近年来随着工程技术和计算机技术的迅速发展,磁共振成像(MRI)技术的水平和功能得到不断地改进和完善,为临床医学水平的提高和科研的深入发展提供了有利的条件。磁共振成像技术已经成为临床诊断不可缺少的测试方法之一。因此,要保证磁共振成像系统能够正常高效地运行,需要确保磁共振测试装置的质量。

为保证核磁共振设备检测时能达到要求的精度,不仅要求在出厂前进行参数测试,而且在使用过程中,还必须依据国家标准,由相关检测机构对设备进行定期检查。

    现有测试体模存在以下不足:一是部分体模功能单一,每次只能测量少量性能参数,综合测试时需要多个体模才能完成;二是测试精度不高;三是模块化、标准化不够,成本较高;四是体模不易拆卸、安装及灌液,在体模拆卸过程中易产生零部件的损坏,体模内易出现气泡等。

因此,针对现有磁共振测试体模的不足,提供一种能同时测试多种参数、精度高、模块化强、测试层可灵活组合的磁共振质量控制多参数测试体模以克服现有技术不足甚为必要。

发明内容

本发明的目的在于避免现有技术的不足之处而提供一种磁共振质量控制多参数测试体模,该磁共振质量控制多参数测试体模能同时测试多种参数、精度高、模块化强且测试层可灵活组合,并可以通过套管的选择调节测试层之间的间距,还可以灵活更换测试层。

本发明的一个目的通过以下技术措施实现。

一种磁共振质量控制多参数测试体模,设置有壳体、多个测试层和定位构件;

所述壳体设置有上密封盖、下密封盖和侧壁,所述上密封盖、所述下密封盖密封装配于所述侧壁的两端;

所述定位构件设置有圆棒和与所述圆棒相匹配的套管;

每个所述测试层均设置有与所述圆棒相匹配的通孔,所述测试层通过各自设置的通孔穿设于所述圆棒,相邻两个测试层之间的圆棒上均套设有套管以将相邻的两个测试层隔开,最外两测试层分别距离上密封盖和下密封盖的圆棒上套设有套管,所述圆棒的两端分别固定装配于所述上密封盖和所述下密封盖,所述上密封盖设置有与所述圆棒匹配的上装配件,所述下密封盖设置有与所述圆棒匹配的下装配件,所述圆棒的两端分别固定装配于所述上装配件和所述下装配件。

上述上密封盖设置两个灌液口,所述灌液口固定设置于所述上密封盖。

上述圆棒设置为1至5个,所述套管的数量为所述圆棒数量的3至6倍,每个圆棒配置的套管数量相等。

上述上密封盖设置有装配尼龙螺丝的螺丝孔,所述上密封盖与所述侧壁通过密封圈密封装配,尼龙螺丝装配于所述螺丝孔并抵压于所述密封圈使得所述上密封盖、所述密封圈和所述侧壁密封装配。

上述测试层包括网格测试层、层厚测试层、高对比度分辨率测试层、低对比度测试层和溢流层;或者

所述测试层包括网格测试层、层厚测试层、高对比度分辨率测试层、低对比度测试层、溢流层中的任意两种或者任意三种或者任意四种。

上述网格测试层设置有网格盘体和矩形方孔,所述矩形方孔规则分布设置于所述网格圆盘,其中两个方孔填充为实体。

上述层厚测试层设置有层厚盘体、带有槽孔的“回”字形结构的主体和设置于主体外侧的四个斜面;

所述层厚盘体中心设有与所述槽孔相匹配的正方形通孔,所述层厚圆盘的边缘处设置有用于通液、排气泡的第一半圆形通孔;

所述主体固定设置于所述层厚盘体,所述主体的中心与所述层厚盘体的中心重合,四个所述斜面一一对应固定装配于所述主体的侧面;

所述主体的外壁面自其左上角至右下角方向的对角线位置设置有装配槽,所述斜面固定装配于所述装配槽,所述斜面与水平面之间的夹角A的范围为10——20度。

优选的,上述夹角A的范围为14——16度。

上述高对比度分辨率测试层包括孔式高对比度分辨率测试模块、线对式高对比度分辨率测试模块、中心定位模块和高对比度盘体;

所述高对比度盘体的边缘处设置有用于通液、排气泡的第二半圆形通孔;

所述孔式高对比度分辨率测试模块上设有呈半圆状分布的孔式测试模块,所述孔式测试模块设有孔径大小不同且与测试层垂直的测试孔,相同孔径的测试孔位于同一半径的半圆上,相同孔径的测试孔的外轮廓之间的最小间隔距离等于其孔径;

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